用CSK-1A试块测定探头和仪器分辨力,现测得台孔φ50、φ44反射波等高时,波峰高H1=80%,波谷高H2=50%,求分辨力为多少?

题目

用CSK-1A试块测定探头和仪器分辨力,现测得台孔φ50、φ44反射波等高时,波峰高H1=80%,波谷高H2=50%,求分辨力为多少?


相似考题
参考答案和解析
正确答案: 已知N1=80%,N2=50%
由ΔdB=20log(N1/N2)得
ΔdB=20log(0.8/0.5)=4(dB)
分辨力为4dB。
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  • 第1题:

    与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第2题:

    用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标?


    正确答案: 可测定的组合性能指标包括:
    ①水平线性;
    ②垂直线性;
    ③灵敏度;
    ④分辨力;
    ⑤盲区;
    ⑥声程;
    ⑦入射点;
    ⑧折射角

  • 第3题:

    CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨率
    • D、以上全部

    正确答案:A

  • 第4题:

    通用探伤仪的水平线性误差测定应()。

    • A、在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面
    • B、在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面
    • C、在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面
    • D、在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面

    正确答案:A

  • 第5题:

    70°探头折射角测定应()。

    • A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第6题:

    试块的用途有哪些?CSK-IA试块可测定仪器和探头的哪些性能?


    正确答案: 试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件,它主要用于确定合适的探伤方法;确定探伤灵敏度和评估缺陷大小;校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有:(1)利用厚度25mm和高度100mm,测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围;(2)利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点(前沿长度);(3)利用高度85,91,100mm测定直探头分辨率;(4)利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率;(5)利用50曲面和φ1.5横孔测定斜探头K值;(6)利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力;(7)利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

  • 第7题:

    A型显示超声波探伤设备(包括仪器和探头)的距离分辨力通常用()试块测量。


    正确答案:CSK—1A

  • 第8题:

    0°探头分辨率的测定应使用()。

    • A、CSK-1A试块85、91台阶底面
    • B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面
    • C、WGT-1试块
    • D、WGT-2试块

    正确答案:A

  • 第9题:

    判断题
    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    问答题
    用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标?

    正确答案: 可测定的组合性能指标包括:
    ①水平线性;
    ②垂直线性;
    ③灵敏度;
    ④分辨力;
    ⑤盲区;
    ⑥声程;
    ⑦入射点;
    ⑧折射角
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    单选题
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
    A

    测定斜探头K值

    B

    测定直探头盲区范围

    C

    测定斜探头分辨力

    D

    以上全是


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。
    A

    入射点

    B

    折射角

    C

    分辨率

    D

    K值


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨力
    • D、以上全是

    正确答案:C

  • 第14题:

    水平线性误差测量时,将2.0MHz0°直探头放在CSK-1A标准试块上,仪器自动测量1~5次回波,按“确定”自动计算水平线性误差,完成后进入分辨力测量。


    正确答案:错误

  • 第15题:

    70度探头折射角测定应()。

    • A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第16题:

    铁路货车小角度纵波探头回波频率及频率误差的测试在()回波。

    • A、DB-H1型标准试块扫查3×80mm的横通孔
    • B、CSK-1A型标准试块扫查1.5mm的横通孔
    • C、DB-PZ20-4型标准试块扫查4×200mm的平底孔
    • D、CSK-1A型标准试块扫查50mm的横通孔

    正确答案:D

  • 第17题:

    CSK-1A试块有机玻璃可测定()。

    • A、直探头盲区
    • B、直探头穿透能力
    • C、直探头盲区和穿透能力
    • D、上述都不能测

    正确答案:C

  • 第18题:

    CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。


    正确答案:正确

  • 第19题:

    CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K()的探头.

    • A、>1.5
    • B、>2
    • C、>2.5
    • D、>3

    正确答案:C

  • 第20题:

    问答题
    用CSK-1A试块测定探头和仪器分辨力,现测得台孔φ50、φ44反射波等高时,波峰高H1=80%,波谷高H2=50%,求分辨力为多少?

    正确答案: 已知N1=80%,N2=50%
    由ΔdB=20log(N1/N2)得
    ΔdB=20log(0.8/0.5)=4(dB)
    分辨力为4dB。
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    单选题
    CSK-1A试块有机玻璃可测定()。
    A

    直探头盲区

    B

    直探头穿透能力

    C

    直探头盲区和穿透能力

    D

    上述都不能测


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    70°探头折射角测定应()。
    A

    在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧

    B

    在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧

    C

    在CSK-1A试块探测φ1.5横孔

    D

    在半圆试块上测定


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K()的探头.
    A

    >1.5

    B

    >2

    C

    >2.5

    D

    >3


    正确答案: A
    解析: 暂无解析