CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）

题目

CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）

相似考题

1.利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区

2.利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1：1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的（）和（）

3.CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值

4.距离－幅度对比试块中,可改变的是()A、孔的直径B、孔底的角度C、孔至探测面距离D、孔的长度与孔轴线和试块轴线的不平行度

更多“CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）”相关问题

  • 第1题：

    斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨力
    • D、以上全是

    正确答案:C

  • 第3题：

    CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    70度探头折射角测定应（）。

    • A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第5题：

    试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？


    正确答案: 试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件，它主要用于确定合适的探伤方法；确定探伤灵敏度和评估缺陷大小；校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有：（1）利用厚度25mm和高度100mm，测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围；（2）利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）；（3）利用高度85，91，100mm测定直探头分辨率；（4）利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率；（5）利用50曲面和φ1．5横孔测定斜探头K值；（6）利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力；（7）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

  • 第6题：

    WGT—1试块模拟螺孔上的3mm裂纹，从B面用二次波探伤时，可模拟（）和（）


    正确答案:43；50

  • 第7题：

    判断题
    CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    判断题
    利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    判断题
    斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    判断题
    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
    A

    测定斜探头K值

    B

    测定直探头盲区范围

    C

    测定斜探头分辨力

    D

    以上全是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）

    正确答案： 斜探头,分辨力
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第14题：

    利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨率
    • D、以上全部

    正确答案:A

  • 第16题：

    70°探头折射角测定应（）。

    • A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第17题：

    0°探头分辨率的测定应使用（）。

    • A、CSK-1A试块85、91台阶底面
    • B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面
    • C、WGT-1试块
    • D、WGT-2试块

    正确答案:A

  • 第18题：

    CSK-1A试块中85、91、100mm的台阶主要用来测试直探头的分辨率。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    填空题
    利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1：1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的（）和（）

    正确答案： 35,70
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    37°探头折射角测定应（）。
    A

    在CSK-1A试块A面探测Φ50圆弧

    B

    在CSK-1A试块B面探测Φ50圆弧

    C

    在CSK-1A试块探测Φ1．5横孔

    D

    在半圆试块上测定


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    问答题
    试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？

    正确答案： 试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件，它主要用于确定合适的探伤方法；确定探伤灵敏度和评估缺陷大小；校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有：（1）利用厚度25mm和高度100mm，测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围；（2）利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）；（3）利用高度85，91，100mm测定直探头分辨率；（4）利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率；（5）利用50曲面和φ1．5横孔测定斜探头K值；（6）利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力；（7）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。
    A

    入射点

    B

    折射角

    C

    分辨率

    D

    K值


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

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