CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。
第1题:
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
第2题:
70度探头折射角测定应()。
第3题:
CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
第4题:
CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
第5题:
CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K()的探头.
第6题:
0°探头分辨率的测定应使用()。
第7题:
第8题:
对
错
第9题:
对
错
第10题:
在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧
在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧
在CSK-1A试块探测φ1.5横孔
在半圆试块上测定
第11题:
测定斜探头K值
测定直探头盲区范围
测定斜探头分辨力
以上全是
第12题:
入射点
折射角
分辨率
K值
第13题:
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()
第14题:
CSK-1A试块R100mm的反射面主要用来测试斜探头的折射角。
第15题:
70°探头折射角测定应()。
第16题:
CSK-1A试块直径50毫米有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
第17题:
如何在CSK-1A试块上测试斜探头的入射点和前沿长度?
第18题:
CSK-1A试块中85、91、100mm的台阶主要用来测试直探头的分辨率。
第19题:
对
错
第20题:
第21题:
对
错
第22题:
对
错
第23题:
>1.5
>2
>2.5
>3