斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
第1题:
CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
第2题:
CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。
第3题:
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
第4题:
斜探头探伤时试块上最常用的反射体是:()。
第5题:
70度探头折射角测定应()。
第6题:
70°探头折射角测定应()。
第7题:
CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。
第8题:
对
错
第9题:
对
错
第10题:
在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧
在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧
在CSK-1A试块探测φ1.5横孔
在半圆试块上测定
第11题:
>1.5
>2
>2.5
>3
第12题:
1.2
2
1.86
以上都不对
第13题:
利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。
第14题:
斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中,哪种方法精度最高:()、
第15题:
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
第16题:
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()
第17题:
CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
第18题:
CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
第19题:
对
错
第20题:
对
错
第21题:
半圆试法和横孔法
双孔法
直角边法
不一定,须视具体情况而定
第22题:
测定斜探头K值
测定直探头盲区范围
测定斜探头分辨力
以上全是
第23题:
直探头的的远场分辨力
斜探头的K值
斜探头的入射点
斜探头的声束偏斜角