更多“斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。”相关问题
  • 第1题:

    CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。


    正确答案:正确

  • 第2题:

    CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。

    • A、 直探头的的远场分辨力
    • B、 斜探头的K值
    • C、 斜探头的入射点
    • D、 斜探头的声束偏斜角

    正确答案:C

  • 第3题:

    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第4题:

    斜探头探伤时试块上最常用的反射体是:()。

    • A、平底孔
    • B、长横孔
    • C、大平底
    • D、以上都可以

    正确答案:B

  • 第5题:

    70度探头折射角测定应()。

    • A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第6题:

    70°探头折射角测定应()。

    • A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第7题:

    CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。

    • A、>1.5
    • B、>2
    • C、>2.5
    • D、>3

    正确答案:C

  • 第8题:

    判断题
    CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    判断题
    斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    单选题
    70°探头折射角测定应()。
    A

    在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧

    B

    在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧

    C

    在CSK-1A试块探测φ1.5横孔

    D

    在半圆试块上测定


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    单选题
    CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。
    A

    >1.5

    B

    >2

    C

    >2.5

    D

    >3


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。
    A

     1.2

    B

     2

    C

     1.86

    D

     以上都不对


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。 

    • A、 1.2
    • B、 2
    • C、 1.86
    • D、 以上都不对

    正确答案:B

  • 第14题:

    斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中,哪种方法精度最高:()、

    • A、半圆试法和横孔法
    • B、双孔法
    • C、直角边法
    • D、不一定,须视具体情况而定

    正确答案:A

  • 第15题:

    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨力
    • D、以上全是

    正确答案:C

  • 第16题:

    CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨率
    • D、以上全部

    正确答案:A

  • 第17题:

    CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。


    正确答案:错误

  • 第18题:

    CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。


    正确答案:错误

  • 第19题:

    判断题
    CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第20题:

    判断题
    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    单选题
    斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中,哪种方法精度最高:()、
    A

    半圆试法和横孔法

    B

    双孔法

    C

    直角边法

    D

    不一定,须视具体情况而定


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
    A

    测定斜探头K值

    B

    测定直探头盲区范围

    C

    测定斜探头分辨力

    D

    以上全是


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。
    A

     直探头的的远场分辨力

    B

     斜探头的K值

    C

     斜探头的入射点

    D

     斜探头的声束偏斜角


    正确答案: D
    解析: 暂无解析