下面关于几种CVD方法描述正确的是()。
A、等离子体增强化学气相淀积(PECVD)是目前最主要的化学气相淀积系统,低温淀积是其最主要优点。
B、低压化学气相淀积系统(LPCVD)淀积的某些薄膜,在均匀性和台阶覆盖等方面比APCVD系统的要好,而且污染也少。
C、做CVD淀积钨时,采用六氟化钨WF6作为气体源,六氟化钨能
与衬底窗口处的硅反应,而不与二氧化硅、氮化硅反应,
所以钨可以选择性地沉积在硅接触窗口中。
D、LPCVD不能淀积二氧化硅薄膜。
A、等离子体增强化学气相淀积(PECVD)是目前最主要的化学气相淀积系统,低温淀积是其最主要优点。
B、低压化学气相淀积系统(LPCVD)淀积的某些薄膜,在均匀性和台阶覆盖等方面比APCVD系统的要好,而且污染也少。
C、做CVD淀积钨时,采用六氟化钨WF6作为气体源,六氟化钨能 与衬底窗口处的硅反应,而不与二氧化硅、氮化硅反应, 所以钨可以选择性地沉积在硅接触窗口中。
D、LPCVD不能淀积二氧化硅薄膜。
第1题:
对于某种薄膜的CVD过程,淀积温度为900℃,质量传输系数hG=10cms-1,表面反应速率系数ks=1×107exp(-1.9eV/kT)cms-1。现有以下两种淀积系统可供选择(1)冷壁,石墨支座型;(2)热壁,堆放硅片型。应该选用哪种类型的淀积系统并简述理由。
第2题:
物理气相淀积最基本的两种方法是什么?简述这两种方法制备薄膜的过程。
第3题:
损伤的分布与注入离子在在靶内的()的分布密切相关。
第4题:
淀积黏粒胶膜
第5题:
第6题:
第7题:
1、2
2、4
1、4
1、2、4
1、2、3、4
第8题:
对
错
第9题:
对
错
第10题:
对
错
第11题:
第12题:
第13题:
CVD淀积过程中两个主要的限制步骤是什么?它们分别在什么情况下会支配整个淀积速率?
第14题:
二氧化硅的制备方法很多,其中最常用的是高温()、()淀积、PECVD淀积。
第15题:
淀积粘化
第16题:
有哪几种常用的化学气相淀积薄膜的方法?
第17题:
第18题:
对
错
第19题:
对
错
第20题:
对
错
第21题:
第22题:
第23题:
第24题: