扫描时间=(TE×Ny×NEX)/ETL
扫描时间=(TE×TR×NEX)/ETL
扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETL
扫描时间=(TE×TR×Ny)/ETL
扫描时间=TR×Ny×NEX
第1题:
SE序列T1加权扫描时,如果缩短TE值,正确的变化是()
第2题:
造成卷折伪影主要是因为()
第3题:
卷褶伪影产生的主要是原因是()
第4题:
扫描时间=(TE×Ny×NEX)/ETL
扫描时间=(TE×TR×NEX)/ETL
扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETL
扫描时间=(TE×TR×Ny)/ETL
扫描时间=TR×Ny×NEX
第5题:
图像对比度提高,扫描时间减少
图像对比度不变,扫描时间不变
图像对比度下降,扫描时间增加
图像对比度提高,扫描时间增加
图像对比度提高,扫描时间不变
第6题:
"常规SE序列质子加权"的扫描参数为以下哪项()
第7题:
在FSE序列中,下列叙述正确的是()
第8题:
扫描时间=TE×Ny×NEX
扫描时间=TR×Ny×NEX
扫描时间=TE×TR×NEX
扫描时间=TE×TR×Ny
扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETL
第9题:
每次TE周期的回波数为回波链长
主要用于FSE及IR序列
回波链越长,扫描时间越短
回波链越长,信噪比越低
一个TR周期内,由多次180°脉冲组成回波链
第10题:
回波链越长,扫描时间越长
回波链越短,扫描时间越短
回波链越短,扫描时间越长
回波链越长,扫描时间越短
扫描时间长短与回波链无关