造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。

题目

造成卷摺伪影主要是因为：()。

A.视场的范围超出被检查的揭破部位。

B.被检查的揭破部位超出视场的范围。

C.TR过大。

D.TE过大。

E.扫描时间过长。

相似考题

1.造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

2.避免卷褶伪影的对策有：()。A.增大FOV，使之大于受检部位B.切换相位频率，把层面中较短处设置为频率编码C.缩小FOV，使之等于受检部位D.切换频率编码，使之超出FOV的范围E.增加图像的空间分辨率

3.有关磁共振成像中卷褶伪影的产生原因，正确的是()。A.检查部位超出扫描野B.检查部位小于扫描野C.TR时间太长D.TE时间太长E.TR时间太短

4.CT扫描检查前，去除被检部位金属物品的目的是A、防止金属物品掉入机架，影响扫描B、防止划伤检查床等情况的发生C、防止其改变X射线的波长D、防止产生金属伪影E、防止产生移动伪影

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  • 第1题：

    造成卷折伪影主要是因为

    A、视场的范围超出被检物体

    B、被检物体超出视场的范围

    C、TR过大

    D、TE过大

    E、扫描时间过长


    参考答案：B

  • 第2题：

    卷褶伪影产生的主要是原因是 ( )

    A、被检查的解剖部位超出了视场范围

    B、TR过大

    C、视场的范围超出被检查的解剖部位

    D、TE过大

    E、扫描时间过长


    参考答案：A

  • 第3题：

    红外测温仪在进行测温时，被测目标面积应充满测温仪视场。如果目标尺寸小于视场，背景辐射能量就会进人测温仪的视场，干扰测温读数，造成误差。


    答案：对
    解析：
    红外测温仪在进行测温时，被测目标面积应充满测温仪视场。如果目标尺寸小于视场，背景辐射能量就会进人测温仪的视场，干扰测温读数，造成误差。

  • 第4题：

    FOV小于受检部位时，FOV外的组织信号融入图像

    A.运动伪影

    B.卷褶伪影

    C.化学位移伪影

    D.磁敏感性伪影

    E.截断伪影


    参考答案：B

  • 第5题：

    CT扫描检查前，去除被检部位金属物品的目的是

    A.防止金属物品掉人机架，影响扫描

    B.防止划伤检查床等情况的发生

    C.防止其改变X射线的波长

    D.防止产生金属伪影

    E.防止产生移动伪影


    正确答案：D
    略

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