造成卷摺伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检查的揭破部位。 B、被检查的揭破部位超出视场的范围。 C、TR过大。 D、TE过大。 E、扫描时间过长。

题目

造成卷摺伪影主要是因为（）

  • A、视场的范围超出被检查的揭破部位。 
  • B、被检查的揭破部位超出视场的范围。 
  • C、TR过大。 
  • D、TE过大。 
  • E、扫描时间过长。
相似考题

1.造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

2.主要出现在频率编码方向的图像伪影是()。A、运动伪影B、磁敏感伪影C、截断伪影D、卷褶伪影E、化学位移伪影

3.造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。

4.关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上

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  • 第1题：

    MRI设备伪影主要有

    A.化学位移伪影

    B.卷褶伪影

    C.截断伪影

    D.部分容积效应

    E.层间干忧


    正确答案：ABCDE

  • 第2题：

    金属产生的伪影称（）

    • A、运动伪影
    • B、卷褶伪影
    • C、化学位移伪影
    • D、磁敏感性伪影
    • E、截断伪影

    正确答案:D

  • 第3题：

    多选题
    关于卷褶伪影的叙述，正确的是（）
    A

    卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致

    B

    卷褶伪影主要发生在频率编码方向上

    C

    变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影

    D

    施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影

    E

    增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率


    正确答案： E,D
    解析： 卷褶伪影主要发生在相位编码方向上；增大FOV可消除卷褶伪影。因此.BE是错误的。

  • 第4题：

    单选题
    造成卷折伪影主要是因为（）
    A

    视场的范围超出被检物体

    B

    被检物体超出视场的范围

    C

    TR过大

    D

    TE过大

    E

    扫描时间过长


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第5题：

    造成卷褶伪影主要是因为（）

    • A、视场的范围超出被检物体
    • B、被检物体超出视场的范围
    • C、TR过大
    • D、TE过大
    • E、扫描时间过长

    正确答案:B

  • 第6题：

    不属于磁共振伪影的是（）

    • A、化学位移伪影
    • B、运动伪影
    • C、卷褶伪影
    • D、截断伪影
    • E、放射状伪影

    正确答案:E

  • 第7题：

    单选题
    造成卷摺伪影主要是因为（）
    A

    视场的范围超出被检查的揭破部位。 

    B

    被检查的揭破部位超出视场的范围。 

    C

    TR过大。 

    D

    TE过大。 

    E

    扫描时间过长。


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    单选题
    主要出现在频率编码方向的图像伪影是（）
    A

    运动伪影 

    B

    磁敏感伪影 

    C

    截断伪影 

    D

    卷褶伪影 

    E

    化学位移伪影 


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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