关于常规SE序列的扫描时间，正确的是A、扫描时间=TE×NY×NEXB、扫描时间=TR×NY×NEXC、扫描时间=TE×TR×NEXD、扫描时间=TE×TR×NYE、扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL

题目

关于常规SE序列的扫描时间，正确的是

A、扫描时间=TE×NY×NEX

B、扫描时间=TR×NY×NEX

C、扫描时间=TE×TR×NEX

D、扫描时间=TE×TR×NY

E、扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL

相似考题

1.造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

2.造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。

3.下列SE序列的扫描参数，符合质子加权成像的是：()。A、TR2500ms，TE100ms。B、TR400ms，TE100ms。C、TR400ms，TE15ms。D、TR1000ms，TE75ms。E、TR2500ms，TE15ms。

4.在FSE序列中,下列叙述正确的是( )A.回波链越长，扫描时间越长B.回波链越短，扫描时间越短C.回波链越短，扫描时间越长D.回波链越长，扫描时间越短E.扫描时间长短与回波链无关

参考答案和解析
参考答案：B
更多“关于常规SE序列的扫描时间,正确的是A、扫描时间=TE×NY×NEXB、扫描时间=TR×NY×NEXC、扫描时间=TE×TR× ”相关问题

  • 第1题：

    造成卷折伪影主要是因为

    A、视场的范围超出被检物体

    B、被检物体超出视场的范围

    C、TR过大

    D、TE过大

    E、扫描时间过长


    参考答案：B

  • 第2题：

    卷褶伪影产生的主要是原因是 ( )

    A、被检查的解剖部位超出了视场范围

    B、TR过大

    C、视场的范围超出被检查的解剖部位

    D、TE过大

    E、扫描时间过长


    参考答案：A

  • 第3题：

    除SE序列外，其他磁共振序列的扫描时间还与 有关。


    B

  • 第4题：

    “常规SE序列质子加权”的扫描参数为以下哪项

    A．TR≥60ms，TE≤1500ms

    B．TR≥600ms，TE≤2000ms

    C．TR≥80ms，TE≥2000ms

    D．TR≥2000ms，TE≤50ms

    E．TR≤100ms，TE≤1500ms


    正确答案：D

  • 第5题：

    “常规SE序列质子加权”的扫描参数为以下哪项

    A.TR≥60ms，TE≤1 500ms

    B.TR≥600ms，TE≤2 000ms

    C.TR≥80ms，TE≥2 000ms

    D.TR≥2 000ms，TE≤50ms

    E.TR≤10Oms，TE≤1 500ms


    正确答案：D
    略

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