判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A 对B 错

第1题：

联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出

第2题：

频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。

第3题：

单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。

第4题：

探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

第5题：

频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。

第6题：

选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。

• A、有利于发现缺陷
• B、不利于对缺陷定位
• C、可提高探伤灵敏度
• D、有利于对缺陷定位

第7题：

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）

• A、用TR探头
• B、使用窄脉冲宽频带探头
• C、提高探头频率，减小晶片尺寸
• D、以上都是

第14题：

提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力

第15题：

接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）

• A、联合双探头
• B、普通直探头
• C、表面波探头
• D、横波斜探头

第16题：

双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。

第17题：

检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

第18题：

双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：