双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。

题目

双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。

相似考题

1.通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能

2.联合双直探头的最主要用途是：（）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤

3.双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。

4.采用聚焦探头探伤,由于声束细,产生散乱反射的几率小,因此信噪比高,灵敏度高,有利于缺陷的检出。()此题为判断题(对，错)。

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  • 第1题：

    单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）

    • A、近场干扰
    • B、材质衰减
    • C、盲区
    • D、折射

    正确答案:C

  • 第2题：

    减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。


    正确答案:错误

  • 第3题：

    检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。


    正确答案:增大

  • 第6题：

    选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。

    • A、有利于发现缺陷
    • B、不利于对缺陷定位
    • C、可提高探伤灵敏度
    • D、有利于对缺陷定位

    正确答案:B

  • 第7题：

    通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。

    • A、直探头
    • B、斜探头
    • C、联合双探头
    • D、联合单探头

    正确答案:C

  • 第8题：

    判断题
    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）
    A

    联合双探头

    B

    普通直探头

    C

    表面波探头

    D

    横波斜探头


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）
    A

    用TR探头

    B

    使用窄脉冲宽频带探头

    C

    提高探头频率，减小晶片尺寸

    D

    以上都是


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
    A

    近场干扰

    B

    材质衰减

    C

    盲区

    D

    折射


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出

    正确答案： 两,彼此分离,延迟块,小,近表面缺陷
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出


    正确答案:两；彼此分离；延迟块；小；近表面缺陷

  • 第14题：

    提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）

    • A、用TR探头
    • B、使用窄脉冲宽频带探头
    • C、提高探头频率，减小晶片尺寸
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第15题：

    提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力


    正确答案:错误

  • 第16题：

    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）

    • A、联合双探头
    • B、普通直探头
    • C、表面波探头
    • D、横波斜探头

    正确答案:A

  • 第17题：

    双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。


    正确答案:近表面

  • 第18题：

    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    填空题
    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    填空题
    双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    填空题
    探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

    正确答案： 增大
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

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