联合双直探头的最主要用途是：（）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤

题目

联合双直探头的最主要用途是：（）

  • A、探测近表面缺陷
  • B、精确测定缺陷长度
  • C、精确测定缺陷高度
  • D、用于表面缺陷探伤
相似考题

1.通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能

2.检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头

3.检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头

4.长方体锻件最主要检测方向是（）。A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 直探头垂直的两端面检测

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  • 第1题：

    与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）

    • A、单斜探头法
    • B、单直探头法
    • C、双斜探头前后串列法
    • D、分割式双直探头法

    正确答案:C

  • 第2题：

    轴类锻件最主要检测方向是（）。

    • A、轴向直探头检测
    • B、径向直探头检测
    • C、斜探头外圆面轴向检测
    • D、斜探头外圆面周向检测

    正确答案:B

  • 第3题：

    饼类锻件最主要探测方向是（）

    • A、 直探头端面检测
    • B、 直探头侧面检测
    • C、 斜探头端面检测
    • D、 斜探头侧面检测

    正确答案:A

  • 第4题：

    簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.

    • A、大尺寸
    • B、小尺寸
    • C、联合双直

    正确答案:B,C

  • 第5题：

    检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。

    • A、可变角探头
    • B、直探头
    • C、斜探头
    • D、收/发联合双晶探头

    正确答案:D

  • 第6题：

    单选题
    接近探侧面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（）。
    A

    联合双探头

    B

    普通直探头

    C

    表面波探头

    D

    横波斜探头


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第7题：

    单选题
    双晶直探头的最主要用途是（）。
    A

    探测近表面缺陷

    B

    精确测定缺陷长度

    C

    精确测定缺陷高度

    D

    用于表面缺陷检测


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    单选题
    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）
    A

    联合双探头

    B

    普通直探头

    C

    表面波探头

    D

    横波斜探头


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    检验近表面缺陷，最有效的探头是（）
    A

    可变角探头

    B

    直探头

    C

    斜探头

    D

    收/发联合双晶探头


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    轴类锻件最主要探测方向是：（）
    A

    轴向直探头探伤

    B

    径向直探头探伤

    C

    斜探头外圆面轴向探伤

    D

    斜探头外圆面周向探伤


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    检验近表面缺陷，最有效的方法是（）
    A

    可变角探头

    B

    直探头

    C

    斜探头

    D

    收发联合双晶探头


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出

    正确答案： 两,彼此分离,延迟块,小,近表面缺陷
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出


    正确答案:两；彼此分离；延迟块；小；近表面缺陷

  • 第14题：

    双晶直探头的最主要用途是（）。

    • A、探测近表面缺陷
    • B、精确测定缺陷长度
    • C、精确测定缺陷高度
    • D、用于表面缺陷检测

    正确答案:A

  • 第15题：

    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）

    • A、联合双探头
    • B、普通直探头
    • C、表面波探头
    • D、横波斜探头

    正确答案:A

  • 第16题：

    接近探侧面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（）。

    • A、联合双探头
    • B、普通直探头
    • C、表面波探头
    • D、横波斜探头

    正确答案:A

  • 第17题：

    通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。

    • A、直探头
    • B、斜探头
    • C、联合双探头
    • D、联合单探头

    正确答案:C

  • 第18题：

    单选题
    联合双直探头的最主要用途是：（）
    A

    探测近表面缺陷

    B

    精确测定缺陷长度

    C

    精确测定缺陷高度

    D

    用于表面缺陷探伤


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    单选题
    长方体锻件最主要检测方向是（）。
    A

     直探头端面检测

    B

     直探头侧面检测

    C

     斜探头端面检测

    D

     直探头垂直的两端面检测


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。
    A

    可变角探头

    B

    直探头

    C

    斜探头

    D

    收/发联合双晶探头


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    饼类锻件最主要探测方向是：（）
    A

    直探头端面探伤

    B

    直探头侧面探伤

    C

    斜探头端面探伤

    D

    斜探头侧面探伤


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）
    A

    单斜探头法

    B

    单直探头法

    C

    双斜探头前后串列法

    D

    分割式双直探头法


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    多选题
    簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.
    A

    大尺寸

    B

    小尺寸

    C

    联合双直


    正确答案： C,B
    解析： 暂无解析

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