双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。

题目

双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。

相似考题

1.按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:()A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1

2.检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头

3.下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）A、纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B、横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C、表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D、兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷

4.纵波双晶直探头检测工件时，对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。

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  • 第1题：

    双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。


    正确答案:近表面

  • 第2题：

    双晶直探头的最主要用途是（）。

    • A、探测近表面缺陷
    • B、精确测定缺陷长度
    • C、精确测定缺陷高度
    • D、用于表面缺陷检测

    正确答案:A

  • 第3题：

    用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。


    正确答案:错误

  • 第4题：

    检测近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。


    正确答案:近表面

  • 第6题：

    检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。


    正确答案:正确

  • 第8题：

    单选题
    检验近表面缺陷，最有效的方法是（）
    A

    可变角探头

    B

    直探头

    C

    斜探头

    D

    收发联合双晶探头


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    填空题
    双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    检验近表面缺陷，最有效的探头是（）
    A

    可变角探头

    B

    直探头

    C

    斜探头

    D

    收/发联合双晶探头


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）
    A

    纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷

    B

    横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷

    C

    表面波探头用于检测表面和近表面缺陷

    D

    兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。
    A

    耦合不良

    B

    存在与声束不垂直的平面缺陷

    C

    存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

    D

    以上都可能造成底波消失


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    检验近表面缺陷，最有效的探头是（）

    • A、可变角探头
    • B、直探头
    • C、斜探头
    • D、收/发联合双晶探头

    正确答案:D

  • 第14题：

    在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。

    • A、耦合不良
    • B、存在与声束不垂直的平面缺陷
    • C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
    • D、以上都可能造成底波消失

    正确答案:D

  • 第15题：

    JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，对不锈钢堆焊层超声检测可采用的探头类型为（）。

    • A、 直探头、纵波斜探头、横波斜探头
    • B、 双晶探头、纵波斜探头、横波斜探头
    • C、 双晶探头、直探头、纵波斜探头、纵波双晶斜探头
    • D、 双晶探头、直探头、横波斜探头

    正确答案:C

  • 第16题：

    超声检测堆焊层时，下列叙述正确的是：（）

    • A、采用纵波双晶直探头在堆焊层侧检测堆焊层内缺陷，堆焊层下再热裂纹和堆焊层与基板间未熔合
    • B、采用双晶斜探头在堆焊层侧检测堆焊层内缺陷和堆焊层层下再热裂纹
    • C、采用纵波单直探头从母材侧检测堆焊层内缺陷和堆焊层与基板间未熔合
    • D、采用双晶直探头检测时，探头的隔声层应平行于堆焊层方向，并垂直于堆焊层方向扫查

    正确答案:A,C,D

  • 第17题：

    在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。

    • A、耦合不良
    • B、存在与声束不垂直的平面缺陷
    • C、耦合太好
    • D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

    正确答案:A,B,D

  • 第18题：

    检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。

    • A、可变角探头
    • B、直探头
    • C、斜探头
    • D、收/发联合双晶探头

    正确答案:D

  • 第19题：

    填空题
    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    判断题
    双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    双晶直探头的最主要用途是（）。
    A

    探测近表面缺陷

    B

    精确测定缺陷长度

    C

    精确测定缺陷高度

    D

    用于表面缺陷检测


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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