填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
题目
填空题
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
相似考题
参考答案和解析
正确答案：
照相,录相,可剥性塑料薄膜
解析：
暂无解析
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第1题：
在碳钢和低合金钢锻件超声检测时，按照JB/T4730.3—2005标准规定，如何记录密集性 缺陷？如何测定缺陷密集区面积？
正确答案: （1） 记录密集区缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布。
（2） 饼形锻件：记录大于等于ф4mm当量直径的缺陷密集区。
（3） 其它锻件：记录大于等于ф3mm当量直径的缺陷密集区。
（4） 缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。 -
第2题：
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。 -
第3题：
JB/T4730.5-2005标准对观察显示时间时怎样规定的？
正确答案:标准规定观察显示的时间7—60min。在经过满足施加显像剂后最小等待时间（干式显像剂施加完成或湿式显像剂层干燥）后，显示会逐渐形成，这段时间即为显像时间，标准一般规定为不小于7min。此后的观察时间，溶剂悬浮显像方法是我们目前最常用的，因此新标准将观察显示时间延长为7—60min。从实际应用来看，很多文章都提出了对细小缺陷检测时应适当延长观察时间的观点。但应当注意，在气温较高、空气干燥季节，有些显示在显像剂干燥过程已开始形成，较短时间（小于7min）就形成稳定的显示。因此观察显示的时间应当灵活掌握，在显示形成过程即开始观察（这也有利于对显示性质的判定），在显示开始扩散前记录。在未出现显示时应分阶段对检测部位进行观察，并应满足规定的显示观察时间，以防细小缺陷漏检。 -
第4题：
JB 3963-85标准规定，应记录缺陷当量直径（）的单个缺陷的（）和（）
正确答案:超过Φ4mm；波幅；位置 -
第5题：
按JB/T4730.5-2005标准，荧光渗透检测去除操作时，在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式，这是为了（）
- A、便于观察缺陷显示
- B、提高观察时的背景可见光照度
- C、便于观察显示形成过程
- D、防止过度去除，同时防止去除不足
正确答案:D -
第6题：
按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）
- A、照相
- B、录像
- C、可剥性塑料薄膜
- D、以上全是
正确答案:D -
第7题：
问答题在碳钢和低合金钢锻件超声检测时，按照JB/T4730.3—2005标准规定，如何记录密集性 缺陷？如何测定缺陷密集区面积？正确答案： （1） 记录密集区缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布。
（2） 饼形锻件：记录大于等于ф4mm当量直径的缺陷密集区。
（3） 其它锻件：记录大于等于ф3mm当量直径的缺陷密集区。
（4） 缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。解析： 暂无解析 -
第8题：
判断题按JB/T4730.5-2005标准，某缺陷显示在长轴方向与长轴件轴线的夹角为150°，则该显示按横向缺陷处理。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第9题：
填空题JB 3963-85标准规定，应记录缺陷当量直径（）的单个缺陷的（）和（）正确答案： 超过Φ4mm,波幅,位置解析： 暂无解析 -
第10题：
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第11题：
判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题用溶剂去除型着色探伤时，按照JB/T4730.5-2005的规定，应该怎样去除多余的渗透剂？正确答案： 溶剂去除型渗透剂用清洗剂去除。除特别难清洗的地方外，一般应先用干燥、洁净不脱毛的布依次擦拭，直至大部分多余渗透剂被去除后，再用蘸有清洗剂的干净不脱毛布或纸进行擦拭，直至将被检面上多余的渗透剂全部擦净。但应注意，不得往复擦拭，不得用清洗剂直接在被检面上冲洗。解析： 暂无解析 -
第13题：
下列叙述与JB/T4730.5-2005标准规定不相符合的是：（）
- A、渗透检测质量分级考虑到了缺陷性质、数量、尺寸和密集程度
- B、圆形缺陷的分级既限定了单个缺陷最大尺寸，又限定了缺陷密集程度
- C、焊接接头不允许存在横向线性缺陷显示
- D、评定框内同时存在线性缺陷和圆形缺陷时，应进行综合评级
正确答案:C,D -
第14题：
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
正确答案:照相；录相；可剥性塑料薄膜 -
第15题：
按照JB/T4730.5-2005的规定，渗透探伤方法的选择应考虑哪些因素？试举例说明。
正确答案: 渗透检测方法的选用，首先应满足检测缺陷类型和灵敏度的要求。在此基础上，可根据被检工件表面粗糙度、检测批量大小和检测现场的水源、电源等条件来决定。
（1）对于表面光洁且检测灵敏度要求高的工件，宜采用后乳化型着色法或后乳化型荧光法，也可采用溶剂去除型荧光法。
（2）对于表面粗糙且灵敏度要求低的工件宜采用水洗型着色法或水洗型荧光法。
（3）对现场无水源、电源的检测宜采用溶剂去除型着色法。
（4）对于批量大的工件检测，宜采用水洗型着色法或水洗型荧光法。
（5）对于大工件的局部检测，宜采用溶剂去除型着色法或溶剂去除型荧光法。 -
第16题：
按JB/T4730.5-2005标准，某缺陷显示在长轴方向与长轴件轴线的夹角为150°，则该显示按横向缺陷处理。
正确答案:正确 -
第17题：
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
正确答案:正确 -
第18题：
单选题按JB/T4730.5-2005标准，荧光渗透检测去除操作时，在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式，这是为了（）A便于观察缺陷显示
B提高观察时的背景可见光照度
C便于观察显示形成过程
D防止过度去除，同时防止去除不足
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第19题：
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。正确答案： 照相解析： 暂无解析 -
第20题：
填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。正确答案： 照相,录相,可剥性塑料薄膜解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？正确答案： 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。解析： 暂无解析 -
第22题：
填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷显示在长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于30°时，按横向缺陷处理。紧固件和轴类零件不允许（）。正确答案： 任何横向缺陷显示解析： 暂无解析 -
第23题：
问答题JB/T4730.5-2005标准对观察显示时间时怎样规定的？正确答案： 标准规定观察显示的时间7—60min。在经过满足施加显像剂后最小等待时间（干式显像剂施加完成或湿式显像剂层干燥）后，显示会逐渐形成，这段时间即为显像时间，标准一般规定为不小于7min。此后的观察时间，溶剂悬浮显像方法是我们目前最常用的，因此新标准将观察显示时间延长为7—60min。从实际应用来看，很多文章都提出了对细小缺陷检测时应适当延长观察时间的观点。但应当注意，在气温较高、空气干燥季节，有些显示在显像剂干燥过程已开始形成，较短时间（小于7min）就形成稳定的显示。因此观察显示的时间应当灵活掌握，在显示形成过程即开始观察（这也有利于对显示性质的判定），在显示开始扩散前记录。在未出现显示时应分阶段对检测部位进行观察，并应满足规定的显示观察时间，以防细小缺陷漏检。解析： 暂无解析 -
第24题：
单选题按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A照相
B录像
C可剥性塑料薄膜
D以上全是
正确答案： A解析： 暂无解析