JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

题目

JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

相似考题

1.JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是

2.JB/T4730标准规定，磁悬液的施加不可采用（）A、喷洒法B、浇洒法C、浸泡法D、刷涂法

3.对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。

4.JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。

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  • 第1题：

    JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？


    正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。

  • 第2题：

    JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？


    正确答案: 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
    2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
    3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
    4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
    5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。

  • 第3题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    记录缺陷磁痕的常用方法有（）、（）、（）和（）等


    正确答案:照相法；绘草图法；胶带法；薄膜法

  • 第5题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    填空题
    按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。

    正确答案： 照相,录相,可剥性塑料薄膜
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？

    正确答案： 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。
    A

    1mm

    B

    0.1mm

    C

    0.5mm

    D

    0.8mm


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）
    A

    照相

    B

    录像

    C

    可剥性塑料薄膜

    D

    以上全是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）

    正确答案： 伪显示
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。


    正确答案:照相；录相；可剥性塑料薄膜

  • 第14题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。


    正确答案:错误

  • 第15题：

    JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。


    正确答案:正确

  • 第16题：

    按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）

    • A、照相
    • B、录像
    • C、可剥性塑料薄膜
    • D、以上全是

    正确答案:D

  • 第17题：

    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）


    正确答案:伪显示

  • 第18题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。

    正确答案： 综合
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

    正确答案： 照相
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）
    A

    相关显示

    B

    非相关显示

    C

    伪显示

    D

    以上都是


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？

    正确答案： 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
    2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
    3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
    4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
    5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。
    解析： 暂无解析

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