CVD淀积过程中两个主要的限制步骤是什么?它们分别在什么情况下会支配整个淀积速率?
第1题:
对于某种薄膜的CVD过程,淀积温度为900℃,质量传输系数hG=10cms-1,表面反应速率系数ks=1×107exp(-1.9eV/kT)cms-1。现有以下两种淀积系统可供选择(1)冷壁,石墨支座型;(2)热壁,堆放硅片型。应该选用哪种类型的淀积系统并简述理由。
第2题:
二氧化硅的制备方法很多,其中最常用的是高温()、()淀积、PECVD淀积。
第3题:
损伤的分布与注入离子在在靶内的()的分布密切相关。
第4题:
淋溶(eluviation)与淀积(illuviation)过程
第5题:
腐殖质淀积层
第6题:
第7题:
第8题:
第9题:
对
错
第10题:
第11题:
第12题:
对
错
第13题:
物理气相淀积最基本的两种方法是什么?简述这两种方法制备薄膜的过程。
第14题:
通常热扩散分为两个大步骤,其中第一个步骤是()。
第15题:
淀积粘化
第16题:
淀积黏粒胶膜
第17题:
对
错
第18题:
对
错
第19题:
对
错
第20题:
第21题:
第22题:
第23题: