CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部

题目

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

  • A、测定斜探头K值
  • B、测定直探头盲区范围
  • C、测定斜探头分辨率
  • D、以上全部
相似考题

1.IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。

2.斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

3.利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对

4.CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值

更多“CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部”相关问题

  • 第1题：

    CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。

    • A、 直探头的的远场分辨力
    • B、 斜探头的K值
    • C、 斜探头的入射点
    • D、 斜探头的声束偏斜角

    正确答案:C

  • 第2题：

    与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？


    正确答案: 试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件，它主要用于确定合适的探伤方法；确定探伤灵敏度和评估缺陷大小；校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有：（1）利用厚度25mm和高度100mm，测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围；（2）利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）；（3）利用高度85，91，100mm测定直探头分辨率；（4）利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率；（5）利用50曲面和φ1．5横孔测定斜探头K值；（6）利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力；（7）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

  • 第5题：

    IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。

    • A、不变
    • B、变化

    正确答案:A

  • 第7题：

    判断题
    利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    判断题
    斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    判断题
    IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。
    A

     直探头的的远场分辨力

    B

     斜探头的K值

    C

     斜探头的入射点

    D

     斜探头的声束偏斜角


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。
    A

    斜探头

    B

    直探头

    C

    聚焦探头

    D

    可变角探头


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。
    A

    不变

    B

    变化


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第14题：

    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨力
    • D、以上全是

    正确答案:C

  • 第15题：

    CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。

    • A、直探头盲区
    • B、直探头穿透能力
    • C、直探头盲区和穿透能力
    • D、上述都不能测

    正确答案:C

  • 第16题：

    用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。

    • A、不变
    • B、变化

    正确答案:B

  • 第17题：

    阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。

    • A、斜探头
    • B、直探头
    • C、聚焦探头
    • D、可变角探头

    正确答案:B

  • 第18题：

    判断题
    与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    判断题
    利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
    A

    测定斜探头K值

    B

    测定直探头盲区范围

    C

    测定斜探头分辨力

    D

    以上全是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。
    A

    入射点

    B

    折射角

    C

    分辨率

    D

    K值


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    判断题
    与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

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