X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

题目

X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。

  • A、内标法
  • B、数学校正法
  • C、滤波
  • D、稀释法
相似考题

1.X线成像相关的特性中，"X线能穿透可见光不能穿透的物体，在穿透过程中被穿透物体吸收部分X线"属于A.X线B.荧光效应C.感光效应D.电离效应E.X线的衰减

2.X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

3.在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应

4.简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

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  • 第1题：

    X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    当对技术要求严格或者对结果有争议时，一般采取以下哪种材质分析方法进行检验（）

    • A、化学分析法
    • B、X射线荧光分析法
    • C、发射光谱法
    • D、原子吸收光谱法

    正确答案:A

  • 第3题：

    基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有（）法等。

    • A、稀释
    • B、薄膜样品
    • C、吸收校正
    • D、数学处理

    正确答案:A,B,C,D

  • 第4题：

    在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。

    • A、内标法
    • B、数学校正法
    • C、滤波
    • D、稀释法

    正确答案:C

  • 第5题：

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中，分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第6题：

    在原子吸收光谱法中，下列（）的方法不能消除背景干扰的影响。

    • A、用次灵敏线作为分析线
    • B、用氘灯进行校正
    • C、用自吸收进行校正
    • D、用塞曼效应进行校正

    正确答案:A

  • 第7题：

    原子吸收分析的定量方法—标准加入法消除了下列哪种干扰？（）

    • A、基体效应
    • B、背景吸收
    • C、光散射
    • D、谱线干扰

    正确答案:A

  • 第8题：

    用标准加入法进行原子吸收定量分析，主要消除下列哪种干扰（）.

    • A、分子吸收
    • B、光散射
    • C、基体效应

    正确答案:C

  • 第9题：

    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？


    正确答案:（1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。

  • 第10题：

    单选题
    X线成像相关的特性中，"X线能穿透可见光不能穿透的物体，在穿透过程中被穿透物体吸收部分X线"属于（）
    A

    X线

    B

    荧光效应

    C

    感光效应

    D

    电离效应

    E

    X线的衰减


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。
    A

    消除颗粒效应

    B

    便于压片

    C

    消除元素效应


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    以下哪种X线特性是X线成像中最基础的特性（）
    A

    穿透性

    B

    荧光效应

    C

    摄影效应

    D

    电离效应

    E

    反光作用


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    以下哪种X线特性是X线成像中最基础的特性（）

    • A、穿透性
    • B、荧光效应
    • C、摄影效应
    • D、电离效应
    • E、反光作用

    正确答案:A

  • 第14题：

    X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。


    正确答案:错误

  • 第15题：

    X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

    • A、粒度效应
    • B、吸收
    • C、增强
    • D、矿物效应

    正确答案:A,D

  • 第16题：

    原子吸收的定量方法——标准加入法，消除了下列哪种干扰？（）

    • A、分子吸收
    • B、背景吸收
    • C、光散射
    • D、基体效应

    正确答案:B,D

  • 第17题：

    X荧光分析中，下边哪种方法不能降低背景（）。

    • A、A、激发条件（Kv，m尽可能高

    正确答案:A

  • 第18题：

    X线成像相关的特性中，“X线能穿透可见光不能穿透的物体，在穿透过程中被穿透物体吸收部分X线”属于（）

    • A、X线
    • B、荧光效应
    • C、感光效应
    • D、电离效应
    • E、X线的衰减

    正确答案:E

  • 第19题：

    在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。

    • A、消除颗粒效应
    • B、便于压片
    • C、消除元素效应

    正确答案:A

  • 第20题：

    下述哪种分析方法是以散射光谱为基础的（）

    • A、原子发射光谱
    • B、拉曼光谱
    • C、原子吸收光谱
    • D、X荧光光谱法

    正确答案:B

  • 第21题：

    问答题
    简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

    正确答案： 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
    造成这一现象的原因主要有：
    吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
    非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
    表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
    克服或校正基体效应—忽略基体效应
    基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
    薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
    克服或校正基体效应—减小基体效应
    使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
    克服或校正基体效应—补偿基体效应
    内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
    标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
    散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    问答题
    为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？

    正确答案： 比较标准法、薄膜法和稀释法
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？

    正确答案： （1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。
    解析： 暂无解析

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