在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应
题目
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
- A、均匀性
- B、粒度效应
- C、辐射
- D、吸收-增强效应
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第1题：
在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）
- A、样品的粒度
- B、不均匀性
- C、表面结构
- D、化学价态
正确答案:D -
第2题：
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
正确答案:错误 -
第3题：
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
正确答案:压片法 -
第4题：
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
正确答案: 对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。 -
第5题：
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
正确答案:正确 -
第6题：
X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
正确答案:错误 -
第7题：
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
正确答案:正确 -
第8题：
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
正确答案:刚玉 -
第9题：
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。
- A、光子
- B、荧光
- C、光谱
- D、线束
正确答案:B -
第10题：
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
正确答案:标准样品 -
第11题：
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
正确答案:正确 -
第12题：
多选题对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时，样品放置应满足（）A从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的左边
B从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的右边
C样品放置，应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器
D样品放置位置关系不大，只要能满足聚焦清晰即可
正确答案： A,C解析： 暂无解析 -
第13题：
X射线荧光仪样品室抽真空，其目的是为了（）。
正确答案:减少空气对特征X射线光谱的吸收 -
第14题：
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
- A、组成
- B、制样方法
- C、样品无裂纹
- D、样品无气孔
正确答案:A,B -
第15题：
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
正确答案:正确 -
第16题：
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
正确答案:错误 -
第17题：
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
- A、定性分析
- B、定量分析
- C、都不是
正确答案:A,B -
第18题：
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
正确答案:矿物效应 -
第19题：
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
正确答案:错误 -
第20题：
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
正确答案:正确 -
第21题：
在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。
- A、小于
- B、等于
- C、大于
正确答案:A -
第22题：
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
正确答案:错误 -
第23题：
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
正确答案:熔融法