简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?
第1题:
X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
第2题:
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。
第3题:
在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。
第4题:
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
第5题:
光谱分析样品的制样要求()。
第6题:
X射线荧光光谱法测定铁水成分,只需样品大小合适,对检测表面制样没什么要求。
第7题:
X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
第8题:
在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
第9题:
在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。
第10题:
X射线荧光光谱法分析金属样品,取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
第11题:
简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。
第12题:
第13题:
如何在无损的情况下检验锈蚀铁器内是否残留金属核心?()
第14题:
以下说法错误的是()
第15题:
X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?
第16题:
X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
第17题:
X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
第18题:
简述X射线荧光光谱分析的优点。
第19题:
X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度不会影响分析精度。
第20题:
由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。
第21题:
X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。
第22题:
进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。
第23题:
简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求?