第1题:
应变片测量应变的理论基础是:在一定范围内,应变片的电阻变化率与应变成()关系。
第2题:
沿应变片轴向的应变ex必然引起应变片电阻的相对变化,而沿垂直于应变片轴向的横向应变ey也会引起其电阻的相对变化,这种现象称为()。
第3题:
粘贴到试件上的电阻应变片,环境温度变化会引起电阻的相对变化,产生虚假应变,这种现象称为温度效应,简述产生这种现象的原因。
第4题:
当测量较小应变值时,应选用电阻()效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用()效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料的相对变化来决定。
第5题:
电阻应变片的电阻相对变化率是与()成正比的。
第6题:
关于电阻应变片,下列说法中正确的是()
第7题:
电阻应变片中,电阻丝()的灵敏系数小于其()的灵敏系数的现象,称为应变片的横向灵敏系数。
第8题:
第9题:
第10题:
应变片电阻值的大小
单位应变引起的应变片相对电阻值变化
应变片金属丝的截面积的相对变化
应变片金属丝电阻值的相对变化
第11题:
第12题:
第13题:
粘贴到试件上的电阻应变片,环境温度变化会引起电阻的相对变化,产生虚假应变,这种现象称为温度效应,简述产生这种效应的原因。
第14题:
金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于:前者利用金属的()引起的电阻变化,后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。
第15题:
金属电阻应变片与半导体应变片的主要区别在于:前者利用()引起的电阻变化,后者利用()变化引起的电阻变化。
第16题:
当测量较小应变值时,应选用()工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。
第17题:
金属应变片工作原理是利用()效应;半导体应变片工作原理是利用()效应。二者灵敏系数主要区别是:金属应变片的电阻变化主要由()引起的,半导体应变片的电阻变化主要由()引起的。
第18题:
当应变片的主轴线方向与试件轴线方向一致,且试件轴线上受一维应力作用时,应变片灵敏系数K的定义是()。
第19题:
由于测量现场环境温度的改变,而引起应变片电阻的附加相对变化量,称为(),因此而给测量带来的附加误差 ,称为应变片的(),又叫应变片的()。产生上述现象的原因是由于阻丝()的存在和试件与电阻丝材料()的不同。
第20题:
第21题:
在单向应力作用下,应变片电阻的相对变化与沿其轴向的应变之比值
在X、Y双向应力作用下,X方向应变片电阻的相对变化与Y方向应变片电阻的相对变化之比值
在X、Y双向应力作用下,X方向应变值与Y方向应变值之比值
对于同一单向应变值,应变片在此应变方向垂直安装时的指示应变与沿此应变方向安装时指示应变的比值(以百分数表示)
第22题:
金属应变片主要利用压阻效应
金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化
半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化
半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高,但非线性误差大。
第23题:
第24题: