为何X射线衍射仪常采用平板试样？
题目
为何X射线衍射仪常采用平板试样？
相似考题
参考答案和解析
A
更多“为何X射线衍射仪常采用平板试样？”相关问题
-
第1题：
观察纤维各级微观结构的形态特征，最好采用（）
- A、X射线衍射仪
- B、电子显微镜
- C、光学显微镜
正确答案:B -
第2题：
实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能够产生X射线的仪器是（）。
- A、X射线衍射仪
- B、721分光光度计
- C、X射线荧光分析仪
- D、气相色谱
正确答案:A,C -
第3题：
说明用衍射仪进行多晶试样的衍射分析的原理和过程。
正确答案:衍射仪主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器及各检测记录装置等部分组成。通过X射线发生器产生X入射线，试样在平面粉晶试样台上绕中心轴转动，在满足布拉格方程的方向上产生X衍射线，由探测器探测X衍射线强度，由测角仪测定产生X射线衍射的θ角。 -
第4题：
问答题衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？正确答案： 入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2θ变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为10~20h。记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2θ）的分布（I-2θ曲线）也不同。解析： 暂无解析 -
第5题：
判断题X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第6题：
判断题在X射线衍射分析时，需要采用连续X射线作为辐射源。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第7题：
问答题试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收，以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同？测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成多少度角？正确答案： 衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先，接收X射线方面衍射仪用辐射探测器，德拜法用底片感光；其次衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝。衍射强度公式中的吸收项μ不一样。第三，衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转动，逐一接收衍射；德拜法中底片是同时接收衍射。相比之下，衍射仪法使用更方便，自动化程度高，尤其是与计算机结合，使得衍射仪在强度测量、花样标定和物相分析等方面具有更好的性能。
测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成60度角。因为工作时，探测器与试样同时转动，但转动的角速度为2：1的比例关系。解析： 暂无解析 -
第8题：
问答题测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？正确答案： 当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的夹角是600。能产生衍射的晶面与试样的自由表面平行。解析： 暂无解析 -
第9题：
问答题测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30°角，则计数管与人射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈何种几何关系？正确答案： 60度。因为计数管的转速是试样的2倍。辐射探测器接收的衍射是那些与试样表面平行的晶面产生的衍射。晶面若不平行于试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接收。解析： 暂无解析 -
第10题：
单选题衍射仪用的试样要求（）A平板状
B粉末状
C块状
D以上都可以
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？正确答案： 用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么？衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些？正确答案： 宏观应力对X射线衍射花样的影响是造成衍射线位移。衍射仪法测定宏观应力的方法有两种，一种是0°-45°法。另一种是sin2ψ法。解析： 暂无解析 -
第13题：
比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。
正确答案:多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理，多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布，因此只需要测角仪与样品检测器为θ～2θ联动，就可检测到晶体参数；而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动，调整单晶的各个晶面产生衍射，检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数，主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布，进而推断出分子的结构。 -
第14题：
多晶X射线衍射仪法分为（）和（）两种方法。X光的衍射图的横坐标表示（）为（），纵坐标表示（）。
正确答案:多晶照相法，多晶X射线衍射仪法，衍射角，2θ，强度I -
第15题：
单选题X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使（）A衍射峰变强
B衍射峰变弱
C衍射峰变宽
D衍射峰变窄
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第16题：
问答题说明用衍射仪进行多晶试样的衍射分析的原理和过程。正确答案： 衍射仪主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器及各检测记录装置等部分组成。通过X射线发生器产生X入射线，试样在平面粉晶试样台上绕中心轴转动，在满足布拉格方程的方向上产生X衍射线，由探测器探测X衍射线强度，由测角仪测定产生X射线衍射的θ角。解析： 暂无解析 -
第17题：
问答题试述X射线衍射实验方法，粉末衍射仪的工作方式、工作原理。正确答案： 实验方法：粉末法、劳厄法和转晶法。
粉末衍射仪的工总方式：连续式扫描、步进式扫描。
工作原理：X射线粉末衍射仪用具有一定发散度的特征X光束照射多晶平板样品，多晶平板样品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所产生的衍射线将在适当的方位聚焦而形成衍射强峰，被聚焦的那一部分衍射线所对应的同名晶面或等同晶面与光源和接收狭缝处在同一聚焦圆周上。在测角仪扫描过程中，由光源狭缝、样品台轴心、和接收狭缝确定的聚焦园半径不断改变。但在样品一定深度范围内总是存在与聚焦圆吻合的弧面，由于“同一圆周上的同弧圆周角相等”，组成多晶样品的各小晶粒中，凡处于与聚焦圆吻合的弧面上的，满足衍射矢量方程的同名衍射晶面及其等同晶面所产生的衍射线都将在狭缝处聚焦，并因此形成衍射线强峰。解析： 暂无解析 -
第18题：
多选题实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能够产生X射线的仪器是（）。AX射线衍射仪
B721分光光度计
CX射线荧光分析仪
D气相色谱
正确答案： A,B解析： 暂无解析 -
第19题：
问答题比较X射线粉末多晶衍射仪法测定物质晶体结构与单晶衍射法测定物质晶体结构。正确答案： 多晶法样品制备、衍射实验和数据处理简单，但只能完成对晶体晶系的确定、衍射花样指数标定，点阵参数测定等结构测定中的部分工作，所以，多晶衍射只能进行简单晶体结构测定或复杂结构晶体测定的部分工作。
单晶衍射法样品制备、衍射实验和数据处理复杂，但可测定复杂结构。解析： 暂无解析 -
第20题：
单选题衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角？（）A30度；
B60度；
C90度。
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。正确答案： 多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理，多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布，因此只需要测角仪与样品检测器为θ～2θ联动，就可检测到晶体参数；而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动，调整单晶的各个晶面产生衍射，检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数，主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布，进而推断出分子的结构。解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题试述X射线粉末衍射仪法物相定量分析方法及其过程。正确答案： 物相定量分析方法：外标法、内标法、基体冲洗法（K值法）
过程：
1.物相鉴定；
2.选择标样物相；
3.进行定标曲线的测定；
4.测定试样中标准物相S的强度或测定按要求制备试样中的待测物相及标样S物相制定衍射线强度；
5.用所测定的数据，按各自的方法计算出待测物相的质量分数。解析： 暂无解析 -
第23题：
填空题X射线衍射仪由X射线发生器、（）、（）和（）4个基本*部分组成，现代X射线衍射仪还配有控制操作和运行软件的计算机系统。正确答案： X射线测角仪,辐射探测器,辐射探测电路解析： 暂无解析 -
第24题：
问答题X射线晶体衍射分析为什么采用X射线和晶体？正确答案： X射线：X射线衍射是研究生物大分子结构最精确，分辨率最高的技术，X射线晶体学所使用的是cuka，其波长为1.5418Å，这个尺度与分子中碳原子质检的键距相当，因此刚好适用于解析分子的结构（原子的量级为1Å，可见光波长为几百纳米量级，要想把分子中原子分辨出来，只能用波长量级为Å的电磁波，X射线恰好满足要求）
晶体：单个分子散射的X射线极其微弱，很难检测。晶体中分子以同样的方式排列，其散射的电磁波可叠加而增强信号到可检测水平解析： 暂无解析