第1题:
为暴露产品薄弱环节,并证明改进措施防止薄弱环节再现,在规定的环境应力下进行的试验是( )。
A.可靠性鉴定试验
B.可靠性增长试验
C.加速寿命试验
D.可靠性测定试验
第2题:
可靠性验收试验要求与可靠性鉴定试验的()相同
A、试验方案
B、样本量
C、试验样品
D、综合试验环境
第3题:
可靠性鉴定试验的目的是( )。
第4题:
寿命试验的用途有()。
第5题:
()的目的是为了暴露产品设计、工艺、元器件、原材料等方面存在的缺陷、薄弱环节和故障,为提高产品可靠性提供信息。
第6题:
可靠性鉴定试验的目的是识别有关维修性的设计缺陷,使维修性不断增长,验证产品是否维修性要求。
第7题:
可靠性增长试验的相关问题有()。
第8题:
工程试验
性能试验
统计试验
环境试验
第9题:
为了验证开发的产品可靠性是否与规定的可靠性要求一致
为环境应力筛选试验作准备
为进行可靠性增长试验服务
对可靠性验收试验进行鉴定
第10题:
环境应力筛选试验
可靠性鉴定试验
产品性能试验
可靠性验收试验
可靠性增长试验
第11题:
可靠性测定试验
可靠性鉴定试验
可靠性验收实验
环境应力筛选试验
第12题:
可靠性测定
可靠性验证
可靠性鉴定
可靠性描述
第13题:
可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。
A.环境应力试验
B.可靠性增长试验
C.可靠性鉴定试验
D.可靠性验收试验
E.可靠性测定试验
第14题:
可靠性试验可分为工程试验和( )。
A.统计试验
B.可靠性鉴定试验
C.可靠性验收试验
D.可靠性增长试验
第15题:
第16题:
可靠性鉴定试验是一种()试验
第17题:
关于可靠性鉴定试验的错误说法是()。
第18题:
半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()
第19题:
可靠性鉴定试验
可靠性增长试验
加速寿命试验
可靠性测定试验
第20题:
统计试验
可靠性鉴定试验
可靠性验收试验
可靠性增长试验
第21题:
为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致
为环境应力筛选试验作准备
为进行可靠性增长试验服务
对可靠性验收试验进行鉴定
第22题:
工程试验
性能试验
统计试验
环境试验
第23题:
产品功能试验
环境应力筛选试验
可靠性增长试验
可靠性鉴定试验