质厚衬度效应引起:() (A)样品质量; (B)样品厚度; (C) 散射; (D)A和BA.样品质量B.样品厚度C.散射D.A和B

题目

质厚衬度效应引起:() (A)样品质量; (B)样品厚度; (C) 散射; (D)A和B

A.样品质量

B.样品厚度

C.散射

D.A和B


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  • 第1题:

    对一检测系统做灵敏度实验时需要以下样品:()

    A、空白样品和质控品

    B、质控品和校准品

    C、校准品和检测限样品

    D、空白样品和检测限样品


    参考答案:C

  • 第2题:

    在射线检测工作中,()和电子对效应引起的射线吸收有利于提高照相对比度,而()产生的散射线会降低照相对比度。

    • A、瑞利散射,康普顿效应
    • B、光电效应,康普顿效应
    • C、康普顿效应,光电效应
    • D、康普顿效应,瑞利散射

    正确答案:B

  • 第3题:

    质厚衬度


    正确答案:由于试样的质量和厚度不同,各部分对入射电子发生相互作用,产生的吸收与散射程度不同,而使得透射电子束的强度分布不同,形成反差,称为质-厚衬度。

  • 第4题:

    薄膜样品在透射电镜中如何形成散射衬度像?


    正确答案: 因各处厚度不同,以及各处可能存在化学组成差异使各处对电子的散射能力不同,从而在显示装置上显示明暗不同的衬度像。

  • 第5题:

    质谱技术是将样品分子离子化后根据()的差异来确定样品分子量。

    • A、质量
    • B、质荷比
    • C、吸光度
    • D、电荷量

    正确答案:B

  • 第6题:

    问答题
    透射电子显微镜的衬度形成原因是什么?种类有哪些?为什么将散射衬度也称为质量-厚度衬度?

    正确答案: (1)衬度是指图像上的明暗差异,是在物镜的背焦面上通过物镜光阑选择衍射斑成像的结果。
    (2)包括散射衬度、衍射衬度和相位衬度。
    (3)散射衬度是由于试样各部位对电子的散射能力不同引起的,与试样的质量和厚度有关,因此又称质量-厚度衬度。衍射衬度是由于晶体取向不同引起的。相位衬度是由于电子波相位不同引起的。
    解析: 暂无解析

  • 第7题:

    单选题
    影响射线照相影像质量因素的主因衬度相关因素包括()
    A

    试样厚度、成份、密度的差别

    B

    射线的硬度

    C

    散射

    D

    以上都是


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第8题:

    名词解释题
    质厚衬度

    正确答案: 由于试样的质量和厚度不同,各部分对入射电子发生相互作用,产生的吸收与散射程度不同,而使得透射电子束的强度分布不同,形成反差,称为质-厚衬度。
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    问答题
    简述什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。形成衍射衬度像和相位衬度像时,物镜在聚焦方面有何不同?为什么?

    正确答案: 质厚衬度:入射电子透过非晶样品时,由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异,导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同,对应各个区域的图像的明暗不同,形成的衬度。
    衍射衬度:由于样品中的不同晶体或同一晶体中不同部位的位向差异导致产生衍射程度不同而形成各区域图像亮度的差异,形成的衬度。
    相位衬度:电子束透过样品,试样中原子核和核外电子产生的库伦场导致电子波的相位发生变化,样品中不同微区对相位变化作用不同,把相应的相位的变化情况转变为相衬度,称为相位衬度。
    物镜聚焦方面的不同:透射电子束和至少一个衍射束同时通过物镜光阑成像时,透射束和衍射束相互干涉形成反应晶体点阵周期的条纹成像或点阵像或结构物象,这种相位衬度图像的形成是透射束和衍射束相干的结果,而衍射衬度成像只用透射束或者衍射束成像。
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    问答题
    透射电镜衬度的质厚衬度和衍射衬度和相位衬度各适用于什么材料?

    正确答案: (1)质厚衬度:适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成的图像解释;
    (2)衍射衬度和相位衬度:适用于晶体薄膜试样所成图像的解释。
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    判断题
    透射电镜图像的衬度与样品成分无关。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    质谱技术是将样品分子离子化后根据()的差异来确定样品分子量。
    A

    质量

    B

    质荷比

    C

    吸光度

    D

    电荷量


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    对一检测系统做灵敏度实验时需要以下样品

    A.空白样品和质控品
    B.空白样品和检测限样品
    C.校准品和检测限样品
    D.质控品和校准品

    答案:C
    解析:

  • 第14题:

    在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。

    • A、均匀性
    • B、粒度效应
    • C、辐射
    • D、吸收-增强效应

    正确答案:B,D

  • 第15题:

    影响射线照相影像质量因素的主因衬度相关因素包括()

    • A、试样厚度、成份、密度的差别
    • B、射线的硬度
    • C、散射
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第16题:

    样品表面的影响有非平面样品()、(),造成阴影效应;()也会造成阴影效应。


    正确答案:凸起距离;凹面距离;表面光洁度差

  • 第17题:

    单选题
    当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是()。
    A

    质厚衬度;

    B

    衍衬衬度;

    C

    应变场衬度;

    D

    相位衬度。


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第18题:

    问答题
    简述什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?

    正确答案: 由于样品中不同位相的衍射条件不同而造成的衬度差别叫衍射衬度。
    它与质厚衬度的区别:
    (1)、质厚衬度是建立在原子对电子散射的理论基础上的,而衍射衬度则是利用电子通过不同位相晶粒是的衍射成像原理而获得的衬度,利用了布拉格衍射角。
    (2)质厚衬度利用样品薄膜厚度的差别和平均原子序数的差别来获得衬度,而衍射衬度则是利用不同晶粒的警惕学位相不同来获得衬度。
    (3)质厚衬度应用于非晶体复型样品成像中,而衍射衬度则应用于晶体薄膜样品成像中。
    解析: 暂无解析

  • 第19题:

    问答题
    什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?

    正确答案: 由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。或是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。对于晶体薄膜样品而言,厚度大致均匀,原子序数也无差别,因此,不可能利用质厚衬度来获得图象反差,这样,晶体薄膜样品成像是利用衍射衬度成像,简称“衍射衬度”非晶(复型)样品电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的,即质厚衬度,质厚衬度是建立在非晶样品中原子对电子的散射和透射电子显微镜小孔径成像的基础上的。
    解析: 暂无解析

  • 第20题:

    问答题
    欠焦量和样品厚度对相位衬度有何影响?

    正确答案: 欠焦量是影响相位衬度的关键因素,只有在最佳欠焦量下(满足谢尔策欠焦条件)才能获得高相位衬度;样品厚度也是影响相位衬度的重要因素,随样品厚度增加,透射波和衍射波的振幅、相位随之而变,成像机制也发生改变,逐渐由相位衬度转变为振幅衬度。
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    单选题
    以下不是电子显微镜镜筒必须具有真空的原因()
    A

    防止气体电离和放电现象

    B

    防止电子枪灯丝被氧化

    C

    防止高速电子与分子碰撞而散射降低成像衬度以及污染样品

    D

    增加透明度


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    以下不是TEM的基本成像原理的是()
    A

    衍射衬度

    B

    散射衬度

    C

    相位衬度

    D

    反射衬度


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    透射电镜的反差取决于样品对()的散射能力。
    A

    二次电子

    B

    入射电子

    C

    样品质量厚度

    D

    样品重量

    E

    样品性质


    正确答案: E
    解析: 暂无解析

  • 第24题:

    问答题
    复型样品在投射电镜下的衬度是如何形成的?

    正确答案: 依据质量厚度衬度的原理成像的,利用复型膜上下不同区域厚度或平均原子序数的差别使进入物镜光阑并聚焦于像平面的散射电子强度不同,从而产生了图像的差别,所以复型技术只能观察表面的组织形貌而不能观察晶体内部的微观缺陷。
    解析: 暂无解析