第1题:
第2题:
在发射光谱进行谱线检查时,通常采用与标准光谱比较的方法来确定谱线位置,通常作为标准的是()
第3题:
在光栅光谱中,下列描述正确的是()
第4题:
用A=500nm的光垂直射在2500条/cm刻痕的平面衍射光栅上,则第四级谱线的衍射角应为()。
第5题:
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。
第6题:
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。
第7题:
波长为253.6nm和546.1nm两条谱线的瑞利散射强度之比为()
第8题:
X射线通过滤线板后:()
第9题:
用波长为λ的单色平行光垂直入射在一块多缝光柵上,其光柵常数d=3μm,缝宽a =1μm,则在单缝衍射的中央明条纹中共有()条谱线(主极大)。
第10题:
第11题:
第12题:
0.148
0.158
0.168
0.178
第13题:
X射线透过滤线板后()
第14题:
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
第15题:
某元素的特征光谱中含有波长λ1=450nm和λ2=750nm的光谱线,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处的谱线λ2主极大的级数将是()
第16题:
比较两条单色的X射线的谱线时注意到,谱线A在一个晶体的光滑面成30°的掠射角处给出第一级反射极大。已知谱线B的波长为0.097nm。谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的掠射角处,给出第三级的反射极大,则谱线A的波长为()nm。
第17题:
下列分析线描述错误的是()
第18题:
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。
第19题:
怎样使光栅衍射的谱线的宽度变小和谱线间的距离变大?(光的波长不变)
第20题:
以波长λ1=0.11nm的X射线照射某晶面,其晶面间距为d,在入射掠射角为θ1=11.25°时获得第一级极大反射光;换用另一波长为λ2的X射线照射该晶面,测得第一级极大反射光相应的入射掠射角为θ2=17.5°,则以下计算结果正确的是()。
第21题:
在氢原子光谱中,赖曼系(由各激发态跃迁到基态所发射的各谱线组成的谱线系)的最短波长的谱线所对应的光子能量为()eV;巴耳末系的最短波长的谱线所对应的光子的能量为()eV。
第22题:
级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越宽
级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越窄
级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越窄
级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越宽
第23题:
2,3,4,5,…
5,10,15,20,…
2,4,6,8,…
3,6,9,12,…
第24题: