参考答案和解析
荧光仪产生的一次X射线照射到试样上,产生带有试样所含元素的特征谱线的荧光X射线(二次射线)经入射狭缝、分光晶体分光,出射狭缝,留下某元素特征射线,由探测器进行测定,测出该元素的X射线强度,再由计算机进行强度←→含量曲线数据换算得出试样中该元素的含量。
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  • 第1题:

    X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。

    • A、增大
    • B、减小
    • C、不变
    • D、无变化

    正确答案:B

  • 第2题:

    X射线荧光光谱法基本上是一种()分析法。

    • A、相对
    • B、绝对
    • C、物理
    • D、化学

    正确答案:A

  • 第3题:

    原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()

    • A、原子荧光分析法
    • B、X射线荧光分析法
    • C、X射线吸收分析法
    • D、X射线发射分析法

    正确答案:B

  • 第4题:

    X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。


    正确答案:样品制备;激发X射线荧光;X射线荧光的分光

  • 第5题:

    X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差。


    正确答案:正确

  • 第6题:

    X射线荧光光谱法测定铁水成分,只需样品大小合适,对检测表面制样没什么要求。


    正确答案:错误

  • 第7题:

    X射线荧光分析法有何特点?


    正确答案: (1)可以进行无损重复检测。
    (2)能分析低、中、高含量元素。特别对于50%以上的高含量元素,分析效果好。
    (3)能多元素同时分析。
    (4)能分析固体、液体、金属、非金属条件类型的样品。

  • 第8题:

    X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。


    正确答案:刚玉

  • 第9题:

    X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。

    • A、特征光谱
    • B、带状光谱
    • C、连续光谱

    正确答案:A

  • 第10题:

    X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()


    正确答案:熔融法

  • 第11题:

    简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求?


    正确答案:具有较高的探测效率和全能峰效率。
    具有良好的能量分辨率和能量线性。
    死时间短,有优良的高计数率特性。
    使用方便,工作稳定、可靠。
    价廉、寿命长。
    便携式仪器应具有轻便、低功耗的特点。

  • 第12题:

    问答题
    X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同?分别有怎样的适用性?

    正确答案: 光电子的能量分布曲线:采用特定元素某一X光谱线作为入射光,实验测定的待测元素激发出一系列具有不同结合能的电子能谱图,即元素的特征谱峰群;
    应用:(1)元素定性分析(2)元素定量分析(3)固体化合物表面分析(4)化学结构分析
    X射线荧光分析:X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空位,也就是所谓跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。
    应用:(1)定性分析;(2)定量分析;(3)可测原子序数5~92的元素,可多元素同时测定。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应


    正确答案: 基体是指样品中除分析元素外的其它组成元素,由于分析元素的受到样品内其它元素的影响,发生强度减弱或增强,从而破坏X射线荧光的强度与浓度的线性关系,这种影响称为基体效应。

  • 第14题:

    X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。


    正确答案:错误

  • 第15题:

    当对技术要求严格或者对结果有争议时,一般采取以下哪种材质分析方法进行检验()

    • A、化学分析法
    • B、X射线荧光分析法
    • C、发射光谱法
    • D、原子吸收光谱法

    正确答案:A

  • 第16题:

    X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。


    正确答案:正确

  • 第17题:

    X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?


    正确答案: 对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。

  • 第18题:

    采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。


    正确答案:矿物效应

  • 第19题:

    X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度不会影响分析精度。


    正确答案:错误

  • 第20题:

    在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。

    • A、一次X射线
    • B、二次X射线
    • C、次级射线
    • D、X荧光

    正确答案:A

  • 第21题:

    X射线荧光光谱法分析金属样品,取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。


    正确答案:错误

  • 第22题:

    以下哪些方法属于光谱分析法()

    • A、红外光谱法
    • B、原子荧光法
    • C、旋光法
    • D、X射线衍射法

    正确答案:A,B

  • 第23题:

    属于非光谱法的分析方法有:折射法、干涉法、()、X射线衍射法。


    正确答案:旋光法

  • 第24题:

    多选题
    以下哪些方法属于光谱分析法()
    A

    红外光谱法

    B

    原子荧光法

    C

    旋光法

    D

    X射线衍射法


    正确答案: D,C
    解析: 暂无解析