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  • 第1题:

    X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()

    • A、定性分析
    • B、定量分析
    • C、都不是

    正确答案:A,B

  • 第2题:

    X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。

    • A、谱线
    • B、波长
    • C、特征线
    • D、强度

    正确答案:B,D

  • 第3题:

    简述制定X荧光定量分析方法的基本步骤。


    正确答案: (1)根据样品、标样及分析精度和准确度的要求,选择制样方法;
    (2)用标准样品选择最佳分析条件;
    (3)制定工作曲线;
    (4)用标准样品验证分析方法的可靠性及其分析数据的不确定度。

  • 第4题:

    X射线荧光光谱仪按分光方式不同可分为()和()两大类。


    正确答案:波长色散型;能量色散型

  • 第5题:

    渗透检测方法分为()两大类。

    • A、X射线荧光屏观察法
    • B、荧光法
    • C、着色法
    • D、煤油

    正确答案:B,C

  • 第6题:

    用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品,最好的定量方法是()

    • A、标准曲线法
    • B、比较标准法
    • C、稀释法
    • D、标准加入法

    正确答案:D

  • 第7题:

    用内标法进行X射线荧光进行定量分析,选择内标物应遵循()

    • A、内标物与被测物的激发X射线波长相近,基体对两者荧光吸收相近
    • B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相近
    • C、内标物与被测物的激发X射线波长相近,,基体对两者荧光吸收相差大
    • D、两者的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相差大

    正确答案:A

  • 第8题:

    单选题
    用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品,最好的定量方法是()
    A

    标准曲线法

    B

    比较标准法

    C

    稀释法

    D

    标准加入法


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    判断题
    X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    单选题
    原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()
    A

    原子荧光分析法

    B

    X射线荧光分析法

    C

    X射线吸收分析法

    D

    X射线发射分析法


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    问答题
    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

    正确答案: (1)内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    (2)基体对二者的X射线荧光吸收相近,即基体效应可相互抵消。
    (3)原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    问答题
    利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?

    正确答案: 利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是莫塞莱定律、布拉格定律和朗伯比尔定律。
    因为X射线荧光光谱分析是利用元素的特征X射线,而氢和氦原子只有K层电子,不能产生特征X射线,所以无法进行荧光光谱分析。锂原子虽然能产生X射线,但产生的特征X射线波长太长,通常无法进行检测。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。


    正确答案:特征

  • 第14题:

    定量分析方法有()和()两大类。


    正确答案:化学分析;仪器分析

  • 第15题:

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中,分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第16题:

    X射线荧光光谱仪分光方法有()和(),分别用平晶和弯晶分光。


    正确答案:平行法;聚焦法

  • 第17题:

    定量分析的方法有()和()两大类。


    正确答案:化学分析;仪器分析

  • 第18题:

    X射线荧光和X射线有什么区别?


    正确答案:(1)X射线的照射源是加速器等,能量很高。X射线荧光的照射源是能量稍低的初级X射线。
    (2)X射线被逐出的电子基本是最内层的K电子。X射线荧光被逐出的电子不会是K电子,而可能是L层、M层电子。
    (3)X射线能量级高,波长短;X射线荧光的能量级低,波长较长。

  • 第19题:

    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?


    正确答案:(1)内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    (2)基体对二者的X射线荧光吸收相近,即基体效应可相互抵消。
    (3)原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。

  • 第20题:

    问答题
    特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同?某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线?

    正确答案: 特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时,多余能量以X射线的形式放出而形成的。
    不同的是,高能电子轰击使原子处于激发态,高能级电子回迁释放的是特征X射线;以X射线轰击,使原子处于激发态,高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    填空题
    定量分析方法有()和()两大类。

    正确答案: 化学分析,仪器分析
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    问答题
    为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应,除了内标法和标准加入法外,还有哪几种方法?

    正确答案: 比较标准法、薄膜法和稀释法
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    判断题
    原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析