X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

题目

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

相似考题

1.X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

2.X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化

3.原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

4.X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。

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  • 第1题：

    原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）

    • A、原子荧光分析法
    • B、X射线荧光分析法
    • C、X射线吸收分析法
    • D、X射线发射分析法

    正确答案:B

  • 第2题：

    X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。


    正确答案:错误

  • 第3题：

    X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

    • A、定性分析
    • B、定量分析
    • C、都不是

    正确答案:A,B

  • 第4题：

    X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。


    正确答案:特征

  • 第5题：

    X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。

    • A、特征光谱
    • B、带状光谱
    • C、连续光谱

    正确答案:A

  • 第7题：

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中，分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第8题：

    X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。

    • A、特征光谱
    • B、散射线
    • C、带状光谱
    • D、连续光谱

    正确答案:D

  • 第9题：

    试从能级跃迁机理比较原子发射光谱、原子荧光光谱和X-射线荧光光谱的异同。


    正确答案:首先都是发射光谱，原子发射光谱和原子荧光光谱都是外层电子的能级跃迁；而X-射线荧光光谱是原子内层电子的能级跃迁；原子荧光光谱和X-射线荧光光谱都是光致发光，是二次发光过程，所以发出的谱线称为荧光光谱。

  • 第10题：

    判断题
    X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）
    A

    原子荧光分析法

    B

    X射线荧光分析法

    C

    X射线吸收分析法

    D

    X射线发射分析法


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    判断题
    原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。


    正确答案:样品制备；激发X射线荧光；X射线荧光的分光

  • 第14题：

    能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。

    • A、能量
    • B、波长
    • C、半导体
    • D、计数

    正确答案:A,C

  • 第15题：

    在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。

    • A、混合
    • B、特征
    • C、连续
    • D、散射

    正确答案:A

  • 第16题：

    波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。

    • A、分光晶体
    • B、光栅
    • C、棱镜
    • D、反射镜

    正确答案:A

  • 第17题：

    X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。

    • A、谱线
    • B、波长
    • C、特征线
    • D、强度

    正确答案:B,D

  • 第18题：

    X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。


    正确答案:记数器；光电倍增管

  • 第19题：

    X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。

    • A、特征光谱
    • B、连续光谱
    • C、带状光谱
    • D、散射线

    正确答案:B

  • 第20题：

    波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。

    • A、溢出
    • B、漏计
    • C、自吸
    • D、吸收

    正确答案:B

  • 第21题：

    问答题
    特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同？某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线？

    正确答案： 特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。
    不同的是，高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    问答题
    利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？

    正确答案： 利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是莫塞莱定律、布拉格定律和朗伯比尔定律。
    因为X射线荧光光谱分析是利用元素的特征X射线，而氢和氦原子只有K层电子，不能产生特征X射线，所以无法进行荧光光谱分析。锂原子虽然能产生X射线，但产生的特征X射线波长太长，通常无法进行检测。
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    试从能级跃迁机理比较原子发射光谱、原子荧光光谱和X-射线荧光光谱的异同。

    正确答案： 首先都是发射光谱，原子发射光谱和原子荧光光谱都是外层电子的能级跃迁；而X-射线荧光光谱是原子内层电子的能级跃迁；原子荧光光谱和X-射线荧光光谱都是光致发光，是二次发光过程，所以发出的谱线称为荧光光谱。
    解析： 暂无解析

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