下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

题目

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )

A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等

B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正

C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差

D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差


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参考答案和解析
正确答案:C
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  • 第1题:

    消除系统误差的方法有哪些()。

    A、增加平行测定的次数

    B、做空白试验

    C、校正仪器

    D、做对照试验。


    参考答案:BCD

  • 第2题:

    系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。

    A.对照试验

    B.滴定试验

    C.多次平行测定

    D.二次平行测定


    正确答案:A

  • 第3题:

    下列说法不属于系统误差产生的原因的是

    A.仪器未经校正

    B.试剂浓度不准确

    C.个人操作方法不规范

    D.观察值本身的变异

    E.诊断标准不统一


    正确答案:C

  • 第4题:

    下列试验方法中,不能发现并消除系统误差的操作是( )。

    A.对照试验
    B.空白实验
    C.改变测定次数
    D.仪器校正

    答案:C
    解析:
    系统误差具备恒定性、单向性、重复性的特征,增加测定次数不能使之减少,增加测定次数可以减免偶然误差。

  • 第5题:

    下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()

    • A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等
    • B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正
    • C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差
    • D、重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

    正确答案:C

  • 第6题:

    下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。

    • A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等
    • B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正
    • C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起
    • D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

    正确答案:D

  • 第7题:

    系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。

    • A、多次平行测定
    • B、二次平行试验
    • C、校正仪器
    • D、滴定试验

    正确答案:C

  • 第8题:

    由于分析仪器未经校正而引起的误差属于系统误差。


    正确答案:正确

  • 第9题:

    在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()

    • A、增加平行试验的次数
    • B、进行对照实验
    • C、进行空白试验
    • D、进行仪器校正

    正确答案:B,C,D

  • 第10题:

    由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。

    • A、对照分析
    • B、空白试验
    • C、增加平行试验
    • D、校正仪器

    正确答案:B

  • 第11题:

    根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()

    • A、方法误差
    • B、仪器误差
    • C、试剂误差
    • D、操作误差

    正确答案:C

  • 第12题:

    单选题
    根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()
    A

    方法误差

    B

    仪器误差

    C

    试剂误差

    D

    操作误差


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。

    A.多次平行测定

    B.二次平行试验

    C.校正仪器

    D.滴定试验


    正确答案:C

  • 第14题:

    由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。

    A.对照分析

    B.空白试验

    C.增加平行试验

    D.校正仪器


    正确答案:B

  • 第15题:

    关于减少系统误差所采用的方法不正确的是

    A.标准方法对照法
    B.多次平行测定取平均值
    C.空白试验
    D.对照试验
    E.校正仪器

    答案:B
    解析:

  • 第16题:

    下列关于减少系统误差所采用的方法中,错误的是( )

    A.标准方法对照法
    B.校正仪器
    C.空白试验
    D.对照试验
    E.多次平行测定取平均值

    答案:E
    解析:

  • 第17题:

    若对照实验说明有系统误差存在,则应设法找出产生系统误差的原因,并加以消除。通常消除化学分析过程中系统误差的方法有()

    • A、做空白实验消除试剂、蒸馏水及器皿引入的杂质所造成的系统误差
    • B、校准仪器以消除仪器不准所引起的系统误差
    • C、引用其它分析方法作校正
    • D、做加标回收试验

    正确答案:A,B,C

  • 第18题:

    系统误差可以用()、空白试验、校正仪器等方法加以校正。

    • A、对照试验
    • B、滴定试验
    • C、多次平行测定
    • D、二次平行测定

    正确答案:A

  • 第19题:

    消除系统误差的方法有()。

    • A、增加平行测定的次数
    • B、做空白试验
    • C、校正仪器
    • D、做对照试验

    正确答案:B,C,D

  • 第20题:

    检验分析方法是否存在系统误差的方法是()。

    • A、空白试验
    • B、回收试验
    • C、增加测定次数
    • D、对各种仪器进行校正

    正确答案:B

  • 第21题:

    内标法是仪器分析校正方法之一,该方法可以克服或减少仪器或方法的不足等引起的随机误差或系统误差。


    正确答案:正确

  • 第22题:

    下列哪项方法对减少系统误差帮助不大()。

    • A、对照试验
    • B、空白试验
    • C、重复试验
    • D、仪器校正
    • E、干扰试验

    正确答案:C

  • 第23题:

    单选题
    由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。
    A

    对照分析

    B

    空白试验

    C

    增加平行试验

    D

    校正仪器


    正确答案: C
    解析: 暂无解析