下列关于计数率特征的描述,错误的一项是A、在符合探测中,总计数中除真符合外,不可避免地包含着散射符合和随机符合的计数率B、在PET图像中,除了与真符合计数相关的统计涨落噪声外,还必须考虑散射和随机符合噪声C、为评估PET图像质量,引入了噪声等效计数,以衡量噪声D、噪声等效计数率等于总计数减去真符合计数率再与总计数的比值E、数率特征反映总符合计数率、真实符合计数率、随机符合计数率、散射符合计数率和噪声等效计数率随活度的变化

题目

下列关于计数率特征的描述,错误的一项是

A、在符合探测中,总计数中除真符合外,不可避免地包含着散射符合和随机符合的计数率

B、在PET图像中,除了与真符合计数相关的统计涨落噪声外,还必须考虑散射和随机符合噪声

C、为评估PET图像质量,引入了噪声等效计数,以衡量噪声

D、噪声等效计数率等于总计数减去真符合计数率再与总计数的比值

E、数率特征反映总符合计数率、真实符合计数率、随机符合计数率、散射符合计数率和噪声等效计数率随活度的变化


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  • 第1题:

    下列关于随机符合校正精度的描述,错误的一项是

    A、描述PET系统对随机符合及由此时间引起的计数丢失的校正精度

    B、用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度

    C、△R=(Rtrues//Rextrap -1)×100%

    D、Rtrues为真实符合计数率

    E、Rextrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率


    参考答案:D

  • 第2题:

    岩性密度测井仪本底各窗口的计数率(在稳谱状态)一般在下列范围:长源距窗口计数率(NLS)为(),短源距窗口计数率(NSS)为();岩性能窗口计数率(NLITH)为()。


    正确答案:89±25cps;150±35cps;17±6cps

  • 第3题:

    当样品的活度逐渐增大时,仪器测得的计数率增加与样品活度的增加不成比例。在超过最大计数率之后,测得的计数率反而减少。这种现象与仪器的何种性能有关()

    • A、能量分辨率
    • B、计数率特性
    • C、空间分辨率
    • D、探测效率
    • E、固有分辨率

    正确答案:B

  • 第4题:

    自然伽马测井仪刻度的目的是建立()关系。

    • A、API和计数率
    • B、孔隙度和计数率比值
    • C、密度和计数率
    • D、Pe和计数率

    正确答案:A

  • 第5题:

    单选题
    下列方法可用于随机符合的校正并统计误差最低的一项是()。
    A

    背景减除法

    B

    探测效率的归一化

    C

    单计数率法

    D

    死时间校正

    E

    延迟符合窗法


    正确答案: E
    解析: 暂无解析

  • 第6题:

    下列有关计数率特征的描述,错误的是

    A、当视野中的活度较低时,γ相机计数率随活度的增加而增加

    B、当活度增加到一定值时,计数率开始随活度的增加而保持不变

    C、计数率特征是描述计数率随活度的变化特征

    D、由最大观察计数率、20%丢失时观察计数率及观察计数率随活度的变化曲线表示

    E、计数率特征分固有(无准直器,源在空气中)计数率特征和有散射系统(有准直器,源在水中)计数率特征两种情况


    参考答案:B

  • 第7题:

    当样品的活度逐渐增大时,仪器测得的计数率增加与样品活度的增加不成比例,在超过最大计数率之后,测得的计数率反而减少。该特性是()

    • A、能量分辨率
    • B、计数率特性
    • C、空间分辨率
    • D、探测效率
    • E、以上都不是

    正确答案:B

  • 第8题:

    放射性计数的统计规律,本底对样品测量有何影响()

    • A、增加样品总计数,提高探测效率
    • B、增大样品净计数率的误差
    • C、降低样品净计数率的误差
    • D、本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消,使样品净计数率误差为0
    • E、增加样品总计数,减低探测效率

    正确答案:B

  • 第9题:

    补偿中子测井仪刻度是建立()关系。

    • A、API和计数率
    • B、孔隙度和计数率比值
    • C、密度和计数率

    正确答案:B

  • 第10题:

    单选题
    当样品的活度逐渐增大时,仪器测得的计数率增加与样品活度的增加不成比例,在超过最大计数率之后,测得的计数率反而减少。该特性是()
    A

    能量分辨率

    B

    计数率特性

    C

    空间分辨率

    D

    探测效率

    E

    以上都不是


    正确答案: E
    解析: 计数率特性是晶体的基本特性之一。