下列关于自动曝光控制的叙述,错误的是
A.可采用荧光体型探测器
B.可采用电离室型探测器
C.可减少人为条件选择不当的失误
D.可自动切断X线的产生
E.多在一钮制设备中使用
第1题:
常规自动曝光摄影用的探测器为
A.硒晶硅
B.电离室式
C.光电计式
D.多丝正比室
E.闪烁晶体
第2题:
A、钨酸镉晶体探测器
B、气体探测器
C、电离室探测器
D、稀土陶瓷探测器
E、比例计数型探测器
第3题:
检测X线线束输出量时最好用何种探测器
A.计数管型
B.正比计数管型
C.电离室型
D.指型电离室型
E.闪烁体型
第4题:
关于自动曝光量控制(AEC)的叙述,错误的是
A.被照体很薄时,AEC也可立即切断X线
B.探测器有电离室式、半导体、荧光体三种
C.AEC的管电压特性与所用屏胶体系的管电压特性有关
D.探测器置于屏胶体系之前还是之后,效果不一样
E.探测器的探测野位置、形状、数量应根据摄影部位选择
第5题:
自动曝光控制系统,探测器的种类有
A.金属探测器、液体探测器
B.液体探测器
C.荧光体探测器、电离室探测器
D.液体探测器、晶体探测器
E.晶体探测器、金属探测器