关于根分叉病变的描述不正确的是（）A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

题目

关于根分叉病变的描述不正确的是（）

  • A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查
  • B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
  • C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
  • D、X线片的表现常比实际病变轻
  • E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
相似考题

1.上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A.颊倾B.腭侧C.远中D.近中E.以上皆可

2.上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A．颊侧B．腭侧C．近中D．远中E．以上皆可

3.上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中颊根与腭根之间的根分叉及远中颊根与腭根之间的根分叉为佳 A.颊侧 B.腭侧 C.近中 D.远中 E.以上皆可

4.关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙

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  • 第1题：

    关于根分叉病变的描述不正确的是

    A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查
    B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
    C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
    D.X线片的表现常比实际病变轻
    E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

    答案：E
    解析：
    受投照角度、组织影像重叠以及骨质破坏形态复杂的影响，根分叉病变的X线表现总比临床实际情况要轻。上颌磨牙的颊侧及下颌磨牙的颊、舌侧分叉一般较易探查。

  • 第2题：

    关于根分叉病变的描述不正确的是（）

    • A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查
    • B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
    • C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
    • D、X线片的表现常比实际病变轻
    • E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

    正确答案:E

  • 第3题：

    单选题
    关于根分叉病变的描述不正确的是（）
    A

    可用普通的弯探针探查

    B

    检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区

    C

    检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区

    D

    X线片的表现常比实际病变轻

    E

    发生根分叉病变的患牙是松动牙


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第4题：

    根分叉病变最好发的牙位是（）

    • A、上颌第二磨牙
    • B、下颌第二磨牙
    • C、上颌第一磨牙
    • D、下颌第一磨牙
    • E、上颌前磨牙

    正确答案:D

  • 第5题：

    单选题
    关于根分叉病变的描述不正确的是（）。
    A

    下颌磨牙的根分叉病变较易探查

    B

    上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入

    C

    上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度

    D

    X线片的表现常比实际病变轻

    E

    发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙


    正确答案： C
    解析： 受投照角度、组织影像重叠以及骨质破坏形态复杂的影响，根分叉病变的X线表现总比临床实际情况要轻。上颌磨牙的颊侧及下颌磨牙的颊、舌侧分叉一般较易探查。

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