上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A．颊侧B．腭侧C．近中D．远中E．以上皆可

题目

上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳

A．颊侧

B．腭侧

C．近中

D．远中

E．以上皆可

相似考题

1.上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A.颊倾B.腭侧C.远中D.近中E.以上皆可

2.关于根分叉病变的描述不正确的是A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

3.上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中颊根与腭根之间的根分叉及远中颊根与腭根之间的根分叉为佳 A.颊侧 B.腭侧 C.近中 D.远中 E.以上皆可

4.关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙

更多“上颌磨牙邻面的根分叉区病变,应用弯探针从哪一面进入,探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A.颊侧B.腭 ”相关问题

  • 第1题：

    关于根分叉病变的描述不正确的是

    A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查
    B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
    C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
    D.X线片的表现常比实际病变轻
    E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

    答案：E
    解析：
    受投照角度、组织影像重叠以及骨质破坏形态复杂的影响，根分叉病变的X线表现总比临床实际情况要轻。上颌磨牙的颊侧及下颌磨牙的颊、舌侧分叉一般较易探查。

  • 第2题：

    最易进入上颌窦的断根是

    A、第一磨牙近中颊根、腭根
    B、第一磨牙近中颊根、第二磨牙近中颊根
    C、第一磨牙腭根、第二磨牙近中颊根
    D、第二磨牙远中颊根、第二磨牙腭根
    E、第一磨牙腭根、第二磨牙腭根

    答案：C
    解析：
    此题是专业知识概念与理解试题，考查考生对局部解剖及拔牙术中并发症的理解。上颌窦的大小变异较大，窦底与牙根的关系多种多样：有的牙根与窦底之间有较厚组织；有的窦底黏膜直接与牙根相邻。拔牙时牙根进入上颌窦者，以上颌第一磨牙腭侧根和第二磨牙近中颊根最常见，拔牙时应引起足够重视。

  • 第3题：

    1、下列关于根分叉病变的临床表现及检查方法的描述正确的是

    A．上颌磨牙近远中邻面根分叉探查均从颊侧进入

    B．X线片的表现常比实际病变重

    C．上颌磨牙邻面根分叉的Ⅱ度和Ⅲ度病变很容易区分

    D．发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

    E．发生根分叉病变的患牙早期松动可不明显


    牙周探诊可贯通颊舌根分叉，牙龈覆盖根分叉区

  • 第4题：

    最易进入上颌窦的断根是

    A:第一磨牙近中颊根、腭根
    B:第一磨牙近中颊根、第二磨牙近中颊根
    C:第一磨牙腭根、第二磨牙近中颊根
    D:第二磨牙远中颊根、第二磨牙腭根
    E:第一磨牙腭根、第二磨牙腭根

    答案：C
    解析：
    此题是专业知识概念与理解试题，考查考生对局部解剖及拔牙术中并发症的理解。上颌窦的大小变异较大，窦底与牙根的关系多种多样：有的牙根与窦底之间有较厚组织；有的窦底黏膜直接与牙根相邻。拔牙时牙根进入上颌窦者，以上颌第一磨牙腭侧根和第二磨牙近中颊根最常见，拔牙时应引起足够重视。

  • 第5题：

    最易进入上颌窦的断根是

    A.第一磨牙腭根、第二磨牙近中颊根
    B.第一磨牙腭根、第二磨牙腭根
    C.第二磨牙远中颊根、第二磨牙腭根
    D.第一磨牙近中颊根、腭根
    E.第一磨牙近中颊根、第二磨牙近中颊根

    答案：A
    解析：

相关内容