填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
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填空题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
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参考答案和解析
正确答案：
伪显示
解析：
暂无解析
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第1题：
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）
- A、相关显示
- B、非相关显示
- C、伪显示
- D、以上都是
正确答案:D -
第2题：
JB3965-85中规定，磁痕线性显示是指长度大于宽度的两倍
正确答案:错误 -
第3题：
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
正确答案: 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。 -
第4题：
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
正确答案:正确 -
第5题：
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
正确答案:正确 -
第6题：
那种情况会产生不相关的磁痕显示？
正确答案:不同金属间的结合缝、钎焊缝、表面上的粗加工刀痕。 -
第7题：
判断题相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第8题：
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。正确答案： 照相解析： 暂无解析 -
第9题：
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？正确答案： 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。解析： 暂无解析 -
第10题：
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第11题：
填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）正确答案： 伪显示解析： 暂无解析 -
第12题：
判断题显示分为相关显示、非相关显示和虚假显示，非相关显示和虚假显示不必记录和评定。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第13题：
关于磁痕显示的叙述，正确的是（）
- A、非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的
- B、表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰
- C、近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲
- D、以上都不对
正确答案:D -
第14题：
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。 -
第15题：
相关显示与非相关显示是由漏磁场形成的磁痕显示，而伪显示不是由漏磁场形成的磁痕显示。
正确答案:正确 -
第16题：
相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示。
正确答案:正确 -
第17题：
显示分为相关显示、非相关显示和虚假显示，非相关显示和虚假显示不必记录和评定。
正确答案:正确 -
第18题：
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
正确答案:伪显示 -
第19题：
填空题磁粉探伤时磁痕显示分为（）、（）和（）三种。正确答案： 相关显示,非相关显示,伪显示解析： 暂无解析 -
第20题：
判断题JB/T4730-2005标准规定：显示分为相关显示，非相关显示和虚假显示，小于0.5mm的显示不计，其它任何显示均应记录和评定。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第21题：
单选题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A相关显示
B非相关显示
C伪显示
D以上都是
正确答案： B解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？正确答案： 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。解析： 暂无解析 -
第23题：
判断题相关显示与非相关显示是由漏磁场形成的磁痕显示，而伪显示不是由漏磁场形成的磁痕显示。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第24题：
单选题关于显示说法正确的是（）。A表面没有缺陷处看到的磁痕肯定是伪显示
B相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，影响工件的使用性能
C非相关显示不是由漏磁场产生的，影响工件的使用性能
D伪显示不是由漏磁场产生的，影响工件的使用性能
正确答案： C解析： 暂无解析