单选题JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。A 1mmB 0.1mmC 0.5mmD 0.8mm

题目
单选题
JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。
A

1mm

B

0.1mm

C

0.5mm

D

0.8mm

相似考题

1.JB/T4730标准规定出现什么情况时，应进行磁粉检验复验？

2.JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

3.JB/T4730标准如何磁粉检测人员的视力要求？

4.长度小于0.05mm的磁痕不计。

参考答案和解析
正确答案： B
解析： 暂无解析
更多“单选题JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。A 1mmB 0.1mmC 0.5mmD 0.8mm”相关问题

  • 第1题：

    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）

    • A、相关显示
    • B、非相关显示
    • C、伪显示
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第2题：

    JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。

    • A、1mm
    • B、0.1mm
    • C、0.5mm
    • D、0.8mm

    正确答案:C

  • 第3题：

    按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）


    正确答案:不记录；裂纹、白点除外

  • 第4题：

    JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？


    正确答案: 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
    2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
    3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
    4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
    5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。

  • 第5题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。


    正确答案:错误

  • 第6题：

    JB/T4730标准规定，但使用磁轭最大间距时，交叉磁轭至少应有（）的提升力。


    正确答案:118N

  • 第7题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。

    正确答案： 综合
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

    正确答案： 照相
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）
    A

    相关显示

    B

    非相关显示

    C

    伪显示

    D

    以上都是


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    问答题
    JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？

    正确答案： 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
    2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
    3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
    4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
    5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）

    正确答案： 伪显示
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。


    正确答案:综合

  • 第14题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？


    正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。

  • 第16题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。


    正确答案:错误

  • 第17题：

    JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。


    正确答案:正确

  • 第18题：

    JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）


    正确答案:伪显示

  • 第19题：

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    填空题
    JB/T4730标准规定，但使用磁轭最大间距时，交叉磁轭至少应有（）的提升力。

    正确答案： 118N
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）

    正确答案： 不记录,裂纹、白点除外
    解析： 暂无解析

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