RMS--颗粒性
DQE--噪声等价量子数
MTF--分辨力
WS--维纳频谱
ROC--受试者操作特性曲线
第1题:
关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
第2题:
下列组合中错误的是
A.RMS——颗粒性
B.DQE——噪声等价量子数
C.MTF——分辨力
D.WS——维纳频谱
E.ROC—受试者操作特性曲线
第3题:
对X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况
B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况
C、常用的检测方法有RMS的测量
D、常用的检测方法有维纳频谱的测量
E、MTF用米测量颗粒度
第4题:
受试者操作特性曲线是
A、NEQ
B、DQE
C、RMS
D、ROC
E、SNR
第5题:
第6题:
下列评价方法与评价对象的组合,错误的是()。
第7题:
调制传递函数的测定
ROC曲线的测定
特性曲线的测定
维纳频谱测定
X线摄影三参量测定
第8题:
量子检出率(DQE)
等效噪声量子数(NEQ)
特性曲线
调制传递函数(MTF)
ROC解析
第9题:
主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况
客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况
常用的检测方法有RMS的测量
常用的检测方法有维纳频谱的测量
MTF用米测量颗粒度
第10题:
维纳频谱(WS)
量子检出效率(DQE)
照片颗粒度均方根值(RMS)
调制传递函数(MTF)
观测者操作特性曲线(ROC)
第11题:
维纳频谱即Wienerspectrum(WS)
ΔD(x)的自相关函数的传氏变换为WS
用WS分析形成X线照片斑点的原因
维纳频谱可以确定不同频率的RMS
维纳频谱也称量子检出效率
第12题:
H-D特性曲线—屏/片系统感度
ROC曲线—影像感兴趣区
MTF—影像清晰度
WS曲线—影像颗粒度
RMS—照片斑点
第13题:
A.特性曲线
B.方波测试卡法
C.ROC曲线
D.调制传递函数
E.维纳频谱(Ws)
第14题:
关于维纳频谱的叙述,错误的是
A、维纳频谱即Wiener spectrum,(WS)
B、△D(x)的自相关函数的付氏变换为WS
C、用WS分析形成X线照片斑点的原因
D、维纳频谱可以确定不同频率的RMS
E、维纳频谱也称量子检出效率
第15题:
噪声等价量子数是
A、NEQ
B、DQE
C、RMS
D、ROC
E、SNR
第16题:
属于主观评价的方法是
A.威钠频谱(WS)
B.量子检出效率(DQE)
C.照片颗粒度均方根值(RMS)
D.调制传递函数(MTF)
E.观测者操作特性曲线(ROC)
第17题:
H-D指的是()
第18题:
下列组合错误的是哪项()
第19题:
RMS--颗粒性
DQE--噪声等价量子数
MTF--调制传递函数
WS--维纳频谱
ROC--受试者操作特性曲线
第20题:
主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况
客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况
常用的检测方法有RMS的测量
常用的检测方法有维纳频谱的测量
MTF用来测量颗粒度
第21题:
等效噪声量子数
量子检出效率
调制传递函数
维纳频谱
特性曲线
第22题:
RMS-颗粒性
DQE-噪声等价量子数
MTF-分辨力
ws-维纳频谱
ROC-受试者操作特性曲线
第23题:
ROC曲线法
MTF
维纳频谱
NEQ
DQE