视场的范围超出被检物体
被检物体超出视场的范围
TR过大
TE过大
扫描时间过长
第1题:
MRI设备伪影主要有
A.化学位移伪影
B.卷褶伪影
C.截断伪影
D.部分容积效应
E.层间干忧
第2题:
金属产生的伪影称()
第3题:
卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致
卷褶伪影主要发生在频率编码方向上
变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影
施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影
增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
第4题:
运动伪影
磁敏感伪影
截断伪影
卷褶伪影
化学位移伪影
第5题:
造成卷褶伪影主要是因为()
第6题:
不属于磁共振伪影的是()
第7题:
受检物体尺寸大于FOV的大小,FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧
卷褶伪影通常出现在相位编码方向上
卷褶伪影通常出现在频率编码方向上
增大FOV可有效避免卷褶伪影
在相位编码上过度采样能避免褶伪影