当前分类： 注册可靠性工程师
问题：关于故障树下行法的说法正确的是（）。A、与门只增加割集的阶数B、或门只增加割集的阶数C、与门只增加割集的个数D、或门既增加割集个数，又增加割集阶数...
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问题：一个良好的环境应力筛选应具备的是（）。A、能暴露偶然故障B、能诱发附加的故障C、能过多消耗受筛产品寿命D、能够很快析出潜在缺陷...
问题：为减少维修时间，汽车厂商重点分析了维修时间最长的那次（发动机）故障，决定采取相应的改进措施。下列措施中，属于维修性改进措施的有（）。A、简化设计B、提高部件标准化设计C、提高发动机设计功率D、提高生产过程质量管理水平...
问题：关于故障树割集的说法正确的有（）。A、割集是底事件的集合，当集合中的底事件同时发生时顶事件必然发生B、割集中的任意底事件去掉就不再成为割集，则该割集就是最小割集C、故障树分析的任务之一就是要寻找故障树的全部割集D、一般情况下阶数越小的最小割集越重要...
问题：根据FMEA（理论），以下设计行为都会涉及到，除了（）A、排除失效原因B、减少失效严重性C、减少问题根源发生的可能性D、减少失效发现的可能性...
问题：产品可靠性是指（）A、在规定的时间内和规定的条件下，完成规定功能的能力B、在规定的时间内和规定的条件下，完成规定功能的概率C、规定的条件下，完成规定功能的概率D、规定的条件下，完成规定功能的能力...
问题：一个系统的可靠度是95%，当MTBF是500小时和平均修理时间是（）A、22小时B、26小时C、133小时D、167小时...
问题：平均故障间隔时间（MTBF）表示的是（）。A、产品在使用过程中首次发生故障的平均时间B、对可修复产品在使用过程中平均故障的间隔时间C、对不可修复产品在使用过程中平均故障时间D、产品在使用过程中致命故障的间隔时间...
问题：对可靠性关键产品应采取的控制措施是（）。A、识别关键产品并编制可靠性关键产品清单B、提出专门的人才培训要求C、通过定期评审来评定可靠性关键产品控制和试验的有效性D、监控可靠性关键产品的设计、制造、试验、装配、维修及使用等全过程...
问题：应用计数法对电子产品进行可靠性预计时，下述正确的有（）。A、设备的故障率是各器件故障率之和B、用于主动冗余电路C、假定设备是串联可靠性模型D、要求各器件的故障率相等...
问题：关于可靠性分配的错误说法是（）。A、可靠性分配是一个由整体到局部，由上到下的分解过程。B、可靠性分配是一个由局部到整体，由下到上的综合过程。C、可靠性分配常用的方法有评分分配法、比例组合法等。D、可靠性分配的目的是明确各单元的可靠性定量要求、发现薄弱环节、对不同的方案进行比较等。...
问题：以下关于故障的说法不正确的是（）。A、由偶然因素引起的故障称为偶然故障B、由老化、磨损等因素引起的故障称为耗损故障C、按故障的统计特性分为独立故障和从属故障D、按故障的规律分为致命性故障和非致命性故障...
问题：属于连续型数据的有（）A、产品故障的修复时间B、产品寿命C、产品发生故障的时间D、一批产品的不合格数...
问题：下面哪一项不属于可靠性设计分析技术（）。A、应力-强度分析B、FMEAC、FTAD、FRACAS...
问题：关于可靠性强化试验中高/低温试验剖面的错误说法是（）。A、每步保持时间：包括产品完全热/冷透的时间和产品检测所需时间B、一般在高/低温工作极限后，步长调整为15℃或更长。C、步长通常为10℃，但是某些时候也可以增加到20℃或减小到5℃。D、起始点温度一般在室温或某一接近室温的条件下开始。...
问题：故障树定性分析内容之一是求全部最小割集。对于最小割集，以下说法错误的是（）。A、阶数越大的最小割集越重要B、在低阶最小割集中出现的底事件比高阶最小割集中的底事件重要C、在不同最小割集中重复出现次数越多的底事件越重要D、B和C都对...
问题：在预计产品寿命时，下列哪种类型数据是最佳的？（）A、时间-到-失效B、时间-到-修理C、失效方式D、失效临界...
问题：一种电子元器件恒定失效率为4×10-7/小时。一个系统需要使用64个这种器件，并且所有器件在系统工作时正常运行，则系统失效率是多少？（）A、2.56×10-5/小时B、3.91×10-5/小时C、2.56×10-4/小时D、3.91×10-4/小时...
问题：可靠性研制试验中高于实际使用应力条件的试验有（）。A、可靠性增长摸底试验B、可靠性摸底试验C、可靠性强化试验D、高加速寿命试验...
