什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。
题目
什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。
相似考题
更多“什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。”相关问题
-
第1题：
底片上常见伪缺陷产生的原因是什么？
正确答案: （1）暗盒漏光；
（2）胶片受压、受折；
（3）冲洗不干净；
（4）天气干燥、胶片间相互摩擦；
（5）胶片受潮；
（6）增感屏有污垢，剥落或起了化学作用；
（7）因手不洁；
（8）显影时胶片表面附有小气泡；
（9）胶片在未显影前，沾上了定影液或显影液；
（10）胶片在显影时摇动不匀；
（11）工件表面凹凸不平；
（12）荧光增感屏的荧光余辉未消除就装入胶片等。 -
第2题：
缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
正确答案:错误 -
第3题：
对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是（）
- A、从底片两侧观察该迹象是否表面反光
- B、视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤
- C、用放大镜作局部观察
- D、核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况
- E、以上都是
正确答案:E -
第4题：
简要说明表面缺陷、近表面缺陷和伪缺陷磁痕的显示特征
正确答案: 表面缺陷：泛指各种工艺性质的缺陷，一般情况下，缺陷具有一定的深度或深度比。磁粉在缺陷处堆积较浓、磁痕清晰可见，重复性好。其形状、分布与工艺过程有关。常见的磁痕瘦直、刚劲或呈弯曲线状、网状等。
近表面缺陷：泛指表面层下的发纹、夹层等线状缺陷。因缺陷未露出表面，漏磁场较弱，磁痕沿金属纤维方向分布，呈细而直的线状，有时微弯曲，端部呈尖形。
伪缺陷产生于材质组织不均匀的界面、尺寸突变处，冷作硬化以及成分偏析、磁化电流过大等部位。磁痕聚集呈宽散线状分布，结合工艺可与缺陷磁痕相区别。 -
第5题：
厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的（）。
正确答案:影像清晰度差 -
第6题：
在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是增感屏剥落造成伪缺陷。
正确答案:错误 -
第7题：
渗透探伤将痕迹分为缺陷痕迹、无关痕迹和伪缺陷痕迹。
正确答案:正确 -
第8题：
单选题从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A底片成象颗粒度
B底片上缺陷图像不清晰度
C底片上缺陷图像对比度
D以上都是
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第9题：
单选题对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是（）A从底片两侧观察该迹象是否表面反光
B视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤
C用放大镜作局部观察
D核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况
E以上都是
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第10题：
问答题底片上常见伪缺陷产生的原因是什么？正确答案： （1）暗盒漏光；
（2）胶片受压、受折；
（3）冲洗不干净；
（4）天气干燥、胶片间相互摩擦；
（5）胶片受潮；
（6）增感屏有污垢，剥落或起了化学作用；
（7）因手不洁；
（8）显影时胶片表面附有小气泡；
（9）胶片在未显影前，沾上了定影液或显影液；
（10）胶片在显影时摇动不匀；
（11）工件表面凹凸不平；
（12）荧光增感屏的荧光余辉未消除就装入胶片等。解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题简述伪缺陷迹痕的来源及辨别方法。正确答案： 为缺陷痕迹——来源于受检试件表面受到渗透液的污染，污染源主要有：操作者手上的渗透液污染；检验工作台上的渗透液污染；显像剂受到渗透液污染；清洗时，渗透液飞溅到干净的受检试件表面；擦布或棉花纤维上的渗透液污染；零件筐上残余的渗透液也清洗干净的时间接触造成的污染；缺陷处渗出的渗透液污染了相邻的受检试件等。
辨别方法；当怀疑显示痕迹是伪缺陷时，可用酒精沾湿的棉球擦掉所怀疑的显示痕迹，然后喷洒上一薄层显像剂，如果吧重新显示，即伪缺陷显示；如果重新显示即为真实缺陷显示。解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题简要说明表面缺陷、近表面缺陷和伪缺陷磁痕的显示特征正确答案： 表面缺陷：泛指各种工艺性质的缺陷，一般情况下，缺陷具有一定的深度或深度比。磁粉在缺陷处堆积较浓、磁痕清晰可见，重复性好。其形状、分布与工艺过程有关。常见的磁痕瘦直、刚劲或呈弯曲线状、网状等。
近表面缺陷：泛指表面层下的发纹、夹层等线状缺陷。因缺陷未露出表面，漏磁场较弱，磁痕沿金属纤维方向分布，呈细而直的线状，有时微弯曲，端部呈尖形。伪缺陷产生于材质组织不均匀的界面、尺寸突变处，冷作硬化以及成分偏析、磁化电流过大等部位。磁痕聚集呈宽散线状分布，结合工艺可与缺陷磁痕相区别解析： 暂无解析 -
第13题：
为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，确定缺陷位置、方向和形状，可采用哪些基本扫查方式（）
- A、前后、左右
- B、转角
- C、环绕
- D、以上都是
正确答案:D -
第14题：
从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）
- A、底片成象颗粒度
- B、底片上缺陷图像不清晰度
- C、底片上缺陷图像对比度
- D、以上都是
正确答案:D -
第15题：
钢制焊缝在底片上常见的缺陷有几种？简述气孔和夹渣的特征？
正确答案:（1）钢制焊缝在底片上常见的缺陷有气孔、夹渣、未焊透、未熔合、裂纹和钨夹渣等六种。
（2）气孔黑色的小斑点，外形较光滑且规则，多呈园形或椭圆形，其影像中心黑，而边缘较淡，按其分布，可分为单个、密集、链状等几种。
（3）夹渣：呈现不规则的外形，黑度较均匀，有条状和点状之分，有时伴随未焊透同时出现。 -
第16题：
简述伪缺陷迹痕的来源及辨别方法。
正确答案: 为缺陷痕迹——来源于受检试件表面受到渗透液的污染，污染源主要有：操作者手上的渗透液污染；检验工作台上的渗透液污染；显像剂受到渗透液污染；清洗时，渗透液飞溅到干净的受检试件表面；擦布或棉花纤维上的渗透液污染；零件筐上残余的渗透液也清洗干净的时间接触造成的污染；缺陷处渗出的渗透液污染了相邻的受检试件等。
辨别方法；当怀疑显示痕迹是伪缺陷时，可用酒精沾湿的棉球擦掉所怀疑的显示痕迹，然后喷洒上一薄层显像剂，如果吧重新显示，即伪缺陷显示；如果重新显示即为真实缺陷显示。 -
第17题：
焊缝探伤中，常见的伪缺陷波有哪几种？
正确答案: 焊缝探伤中，常见的伪缺陷波有：
（1）仪器杂波：在不接探头的情况下，由于仪器性能不良，灵敏度调节过高，荧光屏上出现单峰波形，接上探头工作时，此波在荧光屏上的位置固定不变。一般情况下，降低灵敏度后，此波即消失。
（2）探头杂波：仪器接上探头后，在荧光屏上显示出脉冲幅度很高、很宽的信号，无论探头是否接触工件，它都存在且位置不随探头移动而移动，即固定不变。
（3）耦合剂反射波：如果探头的折射角较大，而探伤灵敏度又调得较高，则有一部分能量转换成表面波，这种表面波传播到探头前沿耦合剂堆积处，造成反射信号。只要探头固定不动，随着耦合剂的流失、波幅漫漫降低，很不稳定，用手擦掉探头前面耦合剂时，信号就消失。
（4）焊缝表面沟槽反射波：在多道焊的焊缝表面形成一道道沟槽。当超声波扫查到沟槽时，会引起沟槽反射。鉴别的方法是，一般出现在一次、二次波或稍偏后的位置，这种反射信号的特点是不强烈、迟钝。（5）焊缝上下错位引起的反射波：由于焊缝上下焊偏，在一侧探伤时，焊角反射波很象焊缝内的缺陷，当探头移到另一侧探伤时，在一次波前沿没有反射波或测得探头的水平距离是焊缝的母材上。 -
第18题：
什么是伪距测量？简述用伪距法单点定位的原理。
正确答案:在待测点上安置GPS接收机天线，通过测定某颗卫星发送信号的时刻到接收机天线接收到该信号的时刻t，就可以求得卫星到接收机天线的空间距离。
ρ=t⋅c
由于卫星和接收机的时钟均有误差，电磁波经过电离层和对流层时将产生传播延迟，因此，t乘上空中电磁波传播的速度c得到的距离，不是接收机到卫星的几何距离，故称为伪距，以ρ~来表示。
若用δt、δT表示卫星和接收机时钟相对于GPS时间的误差改正数，δI表示信号在大气中传播的延迟改正数，则ρ=ρ~+c（δt+δT）+δI
其中，卫星钟误差改正数δt可由卫星发出的导航电文给出，δI可采用数学模型计算出来，δT为未知数，ρ为接收机至卫星的几何距离。
设r=（XS，YS，ZS）为卫星在世界大地坐标系中的位置矢，ρ=（Xs−X）2+（Ys−Y）2+（Zs−Z）2量，可由卫星发出的导航电文计算得到，R=（X，Y，Z）为接收机天线（待测点）在大地坐标系中的位置矢量，是待求的未知量。则上式中的ρ可表示为结合式（16-4）和（16-5）可知，每一个伪距观测方程中仅含有X，Y，Z和δT四个未知数。在任一测站只要同时对四颗卫星进行观测，取得四个伪距观测值ρ~，即可解算出四个未知数，从而求出待测点的坐标（X，Y，Z）。当同时观测的卫星多于四颗时，可用最小二乘法进行平差处理。 -
第19题：
判断题渗透探伤将痕迹分为缺陷痕迹、无关痕迹和伪缺陷痕迹。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第20题：
单选题在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是（）。A裂纹
B点状夹渣
C气孔
D增感屏剥落造成伪缺陷
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题钢制焊缝在底片上常见的缺陷有几种？简述气孔和夹渣的特征？正确答案： （1）钢制焊缝在底片上常见的缺陷有气孔、夹渣、未焊透、未熔合、裂纹和钨夹渣等六种。
（2）气孔黑色的小斑点，外形较光滑且规则，多呈园形或椭圆形，其影像中心黑，而边缘较淡，按其分布，可分为单个、密集、链状等几种。
（3）夹渣：呈现不规则的外形，黑度较均匀，有条状和点状之分，有时伴随未焊透同时出现。解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题简答伪缺陷迹痕的来源。正确答案： 为缺陷迹痕—来源于受检工件表面受到渗透剂污染，污染源主要有：操作者手上渗透液的污染；检验工作台的渗透液的污染；显像剂受到渗透液的污染；清洗时，渗透液飞溅到干净的受检工件表面上；擦布或棉花纤维上渗透液的污染；工件筐上残留的渗透液与清洗干净得工件接触造成的污染；缺陷处渗出渗透液污染了相邻的受检工件。解析： 暂无解析 -
第23题：
问答题焊缝探伤中，常见的伪缺陷波有哪几种？正确答案： 焊缝探伤中，常见的伪缺陷波有：
1）仪器杂波，在不接探头的情况下，由于仪器性能不良，灵敏度调节过高，荧光屏上出现单峰或者多峰波形，接上探头工作时，此波在荧光屏上的位置固定不变。一般情况下，降低灵敏度后，此波即消失。
2）探头杂波：仪器接上探头后，在荧光屏上显示出脉冲幅度很高、很宽的信号，无论探头是否接触工件，它都存在且位置不随探头移动而移动，即固定不变。
3）耦合剂反射波：如果探头的折射角较大，而探伤灵敏度又调得较高，则有一部分能量转换成表面波，这种表面波传播到探头前沿耦合剂堆积处，造成反射信号。只要探头固定不动，随着耦合剂的流失、波幅慢慢降低，很不稳定，用手擦掉探头前面耦合剂时，信号就消失。
4）焊缝表面沟槽反射波：在多道焊的焊缝表面形成一道道沟槽。当超声波扫查到沟槽时，会引起沟槽反射。鉴别的方法是，一般出现在一次、二次波处或稍偏后的位置，这种反射信号的特点是不强烈、迟钝。
5）焊缝上下错位引起的反射波：由于焊缝上下焊偏，在一侧探伤时，焊角反射波很象焊缝内的缺陷，当探头移到另一侧探伤时，在一次波前没有反射波或测得探头的水平距离是焊缝的母材上。解析： 暂无解析