化验分析方法要统一，标准溶液须严格校正，尽量克服分析误差。（）

题目

化验分析方法要统一，标准溶液须严格校正，尽量克服分析误差。（）

相似考题

1.要减小抽样误差，最切实可行的方法是A、适当增加观测例数B、控制个体变异C、校正仪器，试剂，统一标准D、严格挑选观测对象E、考察总体中每一个个体

2.化学分析中的系统误差,可以用不同的方法加以校正。()此题为判断题(对，错)。

3.在分析试验中，由于环境温度波动，使测量结果产生误差，称为 ________ 误差。而因标准溶液准确度差造成的误差称为 ________ 误差。

4.进行样品分析时，下列情况属偶然误差的是 ( )A、分析中存在干扰物B、吸管未经校正C、分析仪器波长不准D、天平未经校正E、标本量加错

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  • 第1题：

    为提高分析结果的质量，减少因试剂带来的系统误差，可采用（）的方法给予校正。
    空白试验（试剂空白和方法空白）
    略

  • 第2题：

    系统误差是不容易被发现的，更不容易用校正的方法克服。


    正确答案:错误

  • 第3题：

    减少分析测定中偶然误差的方法为（）。

    • A、进行对照试验
    • B、进行空白试验
    • C、进行仪器校准
    • D、进行分析结果校正
    • E、增加平行试验次数

    正确答案:E

  • 第4题：

    消除试剂误差的方法是（）。

    • A、对照实验
    • B、校正仪器
    • C、选则合适的分析方法
    • D、空白试验

    正确答案:D

  • 第5题：

    化验分析方法要统一，标准溶液须严格校正，尽量克服分析误差。（）


    正确答案:正确

  • 第6题：

    滴定分析中，若试剂含少量待测组分，可用于消除误差的方法是（）。

    • A、仪器校正
    • B、空白试验
    • C、对照分析
    • D、多测几组

    正确答案:B

  • 第7题：

    在实验分析中，可以通过校正消除的误差是（）。

    • A、系统误差
    • B、随机误差
    • C、过失误差

    正确答案:A

  • 第8题：

    为提高分析结果的质量，减少试剂带来的误差，可采用（）的方法给予校正。


    正确答案:空白试验

  • 第9题：

    分析误差来源尽量做到（）、（）和抓住主要误差。


    正确答案:不遗漏；不重复

  • 第10题：

    荧光分析时为什么要用标准溶液校正仪器刻度？


    正确答案:因为荧光分光光度计灵敏度的影响因素很多，同一型号仪器，甚至同一台仪器在不通过实践操作，所得的结果也不尽相同。因而在每次测定时，在选定波长以及狭缝宽度的条件下，先用一种稳定的荧光物质配成浓度一定的对照品溶液对仪器进行校正。

  • 第11题：

    填空题
    分析误差来源尽量做到（）、（）和抓住主要误差。

    正确答案： 不遗漏,不重复
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    问答题
    强震记录要开展哪些误差分析和校正处理？

    正确答案： 分模拟记录和数字记录答题
    数字式：低频误差、仪器噪声、场地背景噪声；零线校正、频响校正
    模拟式：模拟数字化过程产生、仪器本身性能误差；零线校正、频响校正
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。


    正确答案: 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
    造成这一现象的原因主要有：
    吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
    非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
    表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
    克服或校正基体效应—忽略基体效应
    基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
    薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
    克服或校正基体效应—减小基体效应
    使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
    克服或校正基体效应—补偿基体效应
    内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
    标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
    散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。

  • 第14题：

    中级分析工检验开始前应准备好校正过的仪器、相关试剂及标准溶液等。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    用对照分析可以校正由于仪器不精密所造成的误差。


    正确答案:错误

  • 第16题：

    在分析工作中，由于所使用的温度计未经校正而引起的误差，属于（）误差。

    • A、操作
    • B、仪器
    • C、方法
    • D、试剂

    正确答案:B

  • 第17题：

    由于分析仪器未经校正而引起的误差属于系统误差。


    正确答案:正确

  • 第18题：

    检验分析方法是否存在系统误差的方法是（）。

    • A、空白试验
    • B、回收试验
    • C、增加测定次数
    • D、对各种仪器进行校正

    正确答案:B

  • 第19题：

    内标法是仪器分析校正方法之一，该方法可以克服或减少仪器或方法的不足等引起的随机误差或系统误差。


    正确答案:正确

  • 第20题：

    按误差的性质可分为（），偶然误差，（），产生系统误差的主要原因分析方法；仪器不够准确；试剂或蒸馏水含有被测物质或干扰物质；基准物质纯度不够，直接配出来的标准溶液浓度偏低，用其标定的标准溶液浓度偏高等；分析人员的（）也会造成系统误差。


    正确答案:系统误差；过失误差；个人习惯或偏向

  • 第21题：

    滴定分析中，若试剂含少量待测组分，可用于消除误差的方法是（）.

    • A、仪器校正
    • B、空白试验
    • C、对照分析

    正确答案:B

  • 第22题：

    问答题
    简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

    正确答案： 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
    造成这一现象的原因主要有：
    吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
    非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
    表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
    克服或校正基体效应—忽略基体效应
    基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
    薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
    克服或校正基体效应—减小基体效应
    使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
    克服或校正基体效应—补偿基体效应
    内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
    标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
    散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    为提高分析结果的质量，减少试剂带来的误差，可采用（）的方法给予校正。

    正确答案： 空白试验
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    单选题
    要减小抽样误差，最切实可行的方法是（）
    A

    适当增加观测例数

    B

    控制个体变异

    C

    校正仪器、试剂，统一标准

    D

    严格挑选观测对象

    E

    考查总体中每一个个体


    正确答案： E
    解析： 暂无解析

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