X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。
第1题:
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
第2题:
X荧光光谱、ICP光谱、原子吸收光谱分析方法的特点是既可测量低含量元素,又可以准确测量高含量元素。
第3题:
原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
第4题:
以下说法错误的是()
第5题:
不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是()
第6题:
X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
第7题:
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。
第8题:
在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。
第9题:
进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。
第10题:
Ⅰ+Ⅱ
Ⅰ+Ⅲ
Ⅱ+Ⅲ
Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ
第11题:
外标法
内标法
直接比较法
K值法
第12题:
看谱分析
手持X射线荧光光谱分析
手持激光诱导击穿光谱分析
光电直读光谱分析
第13题:
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
第14题:
X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
第15题:
原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()
第16题:
按照电磁辐射的本质来分,光谱分析法可分为原子光谱分析法和分子光谱分析法,属于原子光谱分析法的有()
第17题:
X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。
第18题:
简述X射线荧光光谱分析的优点。
第19题:
在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
第20题:
重量分析是根据称量反应产物的()来确定待测组分含量的一类定量分析方法。
第21题:
无损伤鉴定宝石气相包裹体成分的方法有:().
第22题:
仅仅是Ⅰ
Ⅱ+Ⅲ
Ⅰ+Ⅱ
Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ
第23题:
X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人
X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋
X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行
X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置