直探头主要用于探测（）的缺陷。

第1题：

与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）

• A、单斜探头法
• B、单直探头法
• C、双斜探头前后串列法
• D、分割式双直探头法

第2题：

纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。

第3题：

双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

第4题：

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。

• A、平行
• B、垂直
• C、倾斜
• D、呈90°

第5题：

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。

第6题：

斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。

第7题：

通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。

• A、直探头
• B、斜探头
• C、联合双探头
• D、联合单探头

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

双晶直探头的最主要用途是（）。

• A、探测近表面缺陷
• B、精确测定缺陷长度
• C、精确测定缺陷高度
• D、用于表面缺陷检测

第14题：

在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

第15题：

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。

第16题：

斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。

第17题：

斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。

第18题：

斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：