单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射

题目

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）

  • A、近场干扰
  • B、材质衰减
  • C、盲区
  • D、折射
相似考题

1.靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有()A.声束扩散 B.材质衰减 C.仪器阻塞效应 D.折射

2.双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。

3.靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射

4.双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。

更多“单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射”相关问题

  • 第1题：

    在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）

    • A、耦合不良
    • B、存在与声束不垂直的平面缺陷
    • C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
    • D、工件材料衰减过大

    正确答案:A,B,C,D

  • 第2题：

    单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。

    • A、近场干扰
    • B、衰减
    • C、盲区
    • D、折射

    正确答案:C

  • 第3题：

    单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）

    • A、联合双探头
    • B、普通直探头
    • C、表面波探头
    • D、横波斜探头

    正确答案:A

  • 第5题：

    接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。


    正确答案:较大

  • 第6题：

    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    多选题
    在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）
    A

    耦合不良

    B

    存在与声束不垂直的平面缺陷

    C

    存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

    D

    工件材料衰减过大


    正确答案： B,A
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    单选题
    探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。
    A

    斜射法

    B

    水浸法

    C

    接触法

    D

    穿透法


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    近探测面的缺陷不是总能检出来，因为（）
    A

    近场效应

    B

    衰减

    C

    检测系统的回复时间

    D

    折射


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）
    A

    近场干扰

    B

    材质衰减

    C

    盲区

    D

    折射


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）
    A

    声束扩散

    B

    材质衰减

    C

    仪器阻塞效应

    D

    折射


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出

    正确答案： 两,彼此分离,延迟块,小,近表面缺陷
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出


    正确答案:两；彼此分离；延迟块；小；近表面缺陷

  • 第14题：

    近探测面的缺陷不是总能检出来，因为（）

    • A、近场效应
    • B、衰减
    • C、检测系统的回复时间
    • D、折射

    正确答案:A

  • 第15题：

    单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。

    • A、近场干扰
    • B、材质衰减
    • C、盲区
    • D、选择范围

    正确答案:C

  • 第16题：

    探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。


    正确答案:增大

  • 第17题：

    探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

    • A、斜射法
    • B、水浸法
    • C、接触法
    • D、穿透法

    正确答案:A

  • 第18题：

    填空题
    双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    单选题
    靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到，因为（）
    A

    声束扩散

    B

    材质衰减

    C

    仪器阻塞效应

    D

    折射


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。
    A

    近场干扰

    B

    衰减

    C

    盲区

    D

    折射


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    填空题
    双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。

    正确答案： 近表面
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    分割式探头主要用来（）。
    A

    探测离探伤面远的缺陷

    B

    探测离探伤面近的缺陷

    C

    探测与探伤面平行的缺陷


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）
    A

    联合双探头

    B

    普通直探头

    C

    表面波探头

    D

    横波斜探头


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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