单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射

题目

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）

  • A、近场干扰
  • B、材质衰减
  • C、盲区
  • D、折射
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1.超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是()。A、润滑接触面，尽量减少探头的磨损;B、排除探头与探测面间的空气;C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;D、使探头可靠地接触;

2.与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法

3.用25兆赫硫酸锂晶片制的探头最适宜采用（）探伤A、纵波接触法B、水浸探伤法C、横波接触法D、表面波接触法

4.轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤

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  • 第1题：

    筒形锻件最主要探测方向是：（）

    • A、直探头端面和外圆面探伤
    • B、直探头外圆面轴向探伤
    • C、斜探头外圆面轴向探伤
    • D、以上都是

    正确答案:A

  • 第2题：

    单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。


    正确答案:较大角度

  • 第4题：

    接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。


    正确答案:较大

  • 第5题：

    接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。


    正确答案:较小

  • 第6题：

    探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

    • A、斜射法
    • B、水浸法
    • C、接触法
    • D、穿透法

    正确答案:A

  • 第7题：

    超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是（）。

    • A、润滑接触面，尽量减小探头的磨损
    • B、排除探头与探测面间的空气
    • C、晶片与探测面接触时就不会产生振动
    • D、使探头可靠的接触

    正确答案:B

  • 第8题：

    单选题
    筒形锻件最主要探测方向是：（）
    A

    直探头端面和外圆面探伤

    B

    直探头外圆面轴向探伤

    C

    斜探头外圆面轴向探伤

    D

    以上都是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。
    A

    近场干扰

    B

    衰减

    C

    盲区

    D

    折射


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
    A

    近场干扰

    B

    材质衰减

    C

    盲区

    D

    折射


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是：（）
    A

    润滑接触面尽量减少探头磨损

    B

    排除探头与探测面间的空气

    C

    晶片与探测面直接接触时就不会振动

    D

    使探头可靠地接地


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    分割式探头主要用来（）。
    A

    探测离探伤面远的缺陷

    B

    探测离探伤面近的缺陷

    C

    探测与探伤面平行的缺陷


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。

    • A、近场干扰
    • B、衰减
    • C、盲区
    • D、折射

    正确答案:C

  • 第14题：

    单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。

    • A、近场干扰
    • B、材质衰减
    • C、盲区
    • D、选择范围

    正确答案:C

  • 第15题：

    接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）

    • A、联合双探头
    • B、普通直探头
    • C、表面波探头
    • D、横波斜探头

    正确答案:A

  • 第16题：

    斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。


    正确答案:波形转换；垂直；成一定角度

  • 第17题：

    超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是：（）

    • A、润滑接触面尽量减少探头磨损
    • B、排除探头与探测面间的空气
    • C、晶片与探测面直接接触时就不会振动
    • D、使探头可靠地接地

    正确答案:B

  • 第18题：

    在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。

    • A、耦合不良
    • B、存在与声束不垂直的平面缺陷
    • C、耦合太好
    • D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

    正确答案:A,B,D

  • 第19题：

    填空题
    接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。

    正确答案： 较大
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。
    A

    斜射法

    B

    水浸法

    C

    接触法

    D

    穿透法


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    轴类锻件最主要探测方向是：（）
    A

    轴向直探头探伤

    B

    径向直探头探伤

    C

    斜探头外圆面轴向探伤

    D

    斜探头外圆面周向探伤


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）
    A

    单斜探头法

    B

    单直探头法

    C

    双斜探头前后串列法

    D

    分割式双直探头法


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。

    正确答案： 较小
    解析： 暂无解析

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