在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ，其干扰电流是怎样形成的？

题目

在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ，其干扰电流是怎样形成的？

相似考题

1.现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ，当出现较大的电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值均比真实值大。( )

2.现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值大。

3.为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ，对反映局部缺陷并不灵敏？

4.测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A对B错

更多“在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ，其干扰电流是怎样形成的？”相关问题

  • 第1题：

    采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时，若试品的电容量较小，测量中出现负值，一定是存在着电场干扰。


    正确答案:错误

  • 第2题：

    测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。


    正确答案:错误

  • 第4题：

    两带电体之间寄生（）耦合所形成的干扰称为静电场

    • A、电压
    • B、电流
    • C、电容
    • D、电量

    正确答案:C

  • 第5题：

    在分析小电容量试品的介质损耗因素的测量结果时，应特别注意的外界因素是（）。

    • A、电力设备绝缘表面脏污
    • B、电场干扰和磁场干扰
    • C、试验引线的设置位置—长度
    • D、温度与湿度
    • E、周围环境杂物等

    正确答案:A,B,C,D,E

  • 第6题：

    当绝缘受潮、老化时，有功电流IR将增大，tgδ也增大。通过测量tgδ很灵敏地反映出绝缘的集中缺陷。


    正确答案:错误

  • 第7题：

    测量绝缘介质出现负值的主要原因是（）

    • A、标准电容有介损且大于被试品的介损
    • B、电场干扰
    • C、空间干扰
    • D、湿度影响

    正确答案:A,B,C,D

  • 第8题：

    在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目（）的说法是错的。

    • A、选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上
    • B、外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性
    • C、变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差
    • D、“过零比较”检测方法：测量结果的分散性稍大

    正确答案:C

  • 第9题：

    在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目（）的说法是错的。

    • A、选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上
    • B、外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性
    • C、变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差

    正确答案:C

  • 第10题：

    现场用电桥测量介质损耗因数，出现负数的可能原因是（）。

    • A、标准电容器有损耗
    • B、外部电场干扰
    • C、试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响
    • D、空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响

    正确答案:A,B,C,D

  • 第11题：

    问答题
    在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ，其干扰电流是怎样形成的？

    正确答案： 在现场预防性试验中，往往是部分被试设备停电，而其他高压设备和母线则带电。因此停电设备与带电母线（设备）之间存在着耦合电容，如果被试设备通过测量线路接地，那么沿着它们之间的耦合电容电流便通过测量回路。若把被试设备以外的所有测量线路都屏蔽起来，这时从外部通过被试设备在测量线路中流过的所有电流之和称为干扰电流。因此，干扰电流是沿着干扰元件与测量线路相连接的试品间的部分电容电流和。干扰电流的大小及相位取决于干扰源和被试设备之间的耦合电容，以及取决于干扰源上电压的高低和相位。干扰电流的数值可利用QS1型西林电桥进行测量。干扰电流实际上在大多数情况下是由一个最靠近被试设备的干扰元件（例如一带电母线或邻近带电设备）所产生的，但也必须计及所有干扰元件的影响。因为总干扰电流是由各个干扰源的各自干扰电流所组成，而次要干扰元件能使通过被试设备的干扰电流有不同的数值和相位。由此可知，干扰电流是一个相量，它有大小和方向，当被试设备确定和运行方式不变的情况下，干扰电流的大小和方向即可视为不变。
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    两带电体之间寄生（）耦合所形成的干扰称为静电场
    A

    电压

    B

    电流

    C

    电容

    D

    电量


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    工业杂散电流干扰是怎样引起的？


    正确答案:由于接地回路周围的大型电器设备的杂散电流造成接地电位不稳而引起的干扰。

  • 第14题：

    如果近场中，源是电场骚扰源，那么干扰源具有（）电流、（）电压的特点。


    正确答案:小；大

  • 第15题：

    用西林电桥测量tgδ时，若有磁场干扰，试述其消除方法？


    正确答案: ①为消除磁场对检流计的影响，②可移动电桥位置使之远离干扰源，③或将桥体就地转动改变角度，④找到干扰最小的方位，⑤再取检流计开关在两种极性下所测结果的平均值。

  • 第16题：

    QS1型交流电桥测量时，影响tanØ测量值因素主要有（）

    • A、电场干扰
    • B、温度影响
    • C、被试设备局部绝缘缺陷的影响
    • D、测量电压的影响

    正确答案:A,B,C,D

  • 第17题：

    在冲击试验中，快速变化的电压、电流形成的电磁场是产生干扰的主要原因，它对测量仪器产生干扰的途径，下列叙述中哪一个不恰当（）

    • A、电缆外皮流过电流时造成的干扰
    • B、空间电磁波对测量仪器产生干扰
    • C、从电源回路引入的干扰
    • D、从接地回路引入的干扰

    正确答案:D

  • 第18题：

    现场用电桥测量介质损耗因数，出现－tgδ的主要原因：①标准电容器CN有损耗，且tgδN＞tgδx；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    用QS1型西林电桥测tgδ，消除电场干扰的方法有哪些？


    正确答案: 消除电场干扰方法有以下5种：
    （1）使用移相器消除干扰法；
    （2）用选相倒相法；
    （3）在被试品上加屏蔽环或罩，将电场干扰屏蔽掉；
    （4）用分级加压法；
    （5）桥体加反干扰源法。

  • 第20题：

    在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时，若存在电场干扰，则在任意测试电源极性的情况下，所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。


    正确答案:错误

  • 第21题：

    用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰，需要先在试验电源正、反相两种极性下，测量两组数据：C1tgδ1、C2tgδ2，然后按公式（）计算出试品的实际的tgδ值。

    • A、tgδ=（tgδ1+tgδ2）/2
    • B、tgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1-C2）
    • C、tgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1+C2）
    • D、tgδ=（C2tgδ1+C1tgδ2）/（C1+C2）

    正确答案:C

  • 第22题：

    判断题
    现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    判断题
    测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

相关内容