JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。

第1题：

JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？

第2题：

JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？

第3题：

JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。

第4题：

JB/T4730.4-2005标准规定对在用承压设备的磁粉检测有何要求？

第5题：

JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。

第6题：

JB/T4730.4-2005标准规定：标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。

第7题：

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。

第14题：

JB/T4730.4-2005标准规定：当被检工件表面均匀涂层厚度不超过0.5mm，且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。

第15题：

JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。

第16题：

JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。

第17题：

JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。

第18题：

JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：