在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
第1题:
在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
第2题:
锻件检测,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会()
第3题:
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()
第4题:
半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
第5题:
接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。
第6题:
用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。
第7题:
大于当量尺寸
等于当量尺寸
小于当量尺寸
以上都可能
第8题:
第9题:
第10题:
6dB法
绝对灵敏度法
当量法
以上都对
第11题:
对
错
第12题:
采用当量试块比较法测定的结果
对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果
根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同
第13题:
当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。
第14题:
在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
第15题:
超声波检测中所谓缺陷的指示长度,指的是()
第16题:
只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才需要采用测长法确定缺陷长度。
第17题:
接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。
第18题:
小于实际尺寸
接近声束宽度
稍大于实际尺寸
等于晶片尺寸
第19题:
第20题:
对
错
第21题:
对
错
第22题:
对
错
第23题:
对
错