只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。

题目

只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。

相似考题

1.频谱多普勒测血流时,声束与血流方向夹角应()。A.等于90°B.频谱多普勒测血流时，声束与血流方向夹角应()。A.等于90°B.C.D.E.

2.在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

3.用卡尺测量内径时，使用方法正确的是（）A、使量爪略大于被测工件尺寸B、使量爪略小于被测工件尺寸C、使量爪等于被测工件尺寸D、使量爪大于或者小于被测工件尺寸

4.使用游标卡尺测量外形尺寸时，量爪张开的距离应大于被测工件尺寸，测量孔径时，量爪张开距离应()被测尺寸。A.大于B.小于C.略长于D.等于

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  • 第1题：

    高应变法检测的桩头测点处截面尺寸宜大于原桩身截面尺寸。


    正确答案:错误

  • 第2题：

    超声波检测锻件时， 当缺陷尺寸小于声束截面时，一般可采用（）。

    • A、 6dB法
    • B、 绝对灵敏度法
    • C、 当量法
    • D、 以上都对

    正确答案:D

  • 第3题：

    当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。


    正确答案:错误

  • 第4题：

    使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）

    • A、小于实际尺寸
    • B、接近声束宽度
    • C、稍大于实际尺寸
    • D、等于晶片尺寸

    正确答案:B

  • 第5题：

    在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（）

    • A、小于实际尺寸
    • B、接近声束宽度
    • C、大于实际尺寸
    • D、等于晶片尺寸

    正确答案:C

  • 第6题：

    只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才需要采用测长法确定缺陷长度。


    正确答案:错误

  • 第7题：

    用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。


    正确答案:当量法；相对灵敏度法；绝对灵敏度法。

  • 第8题：

    填空题
    用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。

    正确答案： 当量法,相对灵敏度法,绝对灵敏度法。
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    判断题
    在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    当量法适用于（）
    A

    大于声束截面的缺陷

    B

    小于声束截面的缺陷

    C

    水平裂纹和斜裂纹

    D

    纵向裂纹


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    判断题
    在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    判断题
    在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    使用游标卡尺测量外形尺寸时，量爪张开的距离应大于被测工件尺寸，测量孔径时，量爪张开距离应（）被测尺寸。

    • A、大于
    • B、小于
    • C、略长于
    • D、等于

    正确答案:B

  • 第14题：

    在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。


    正确答案:错误

  • 第15题：

    在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。


    正确答案:错误

  • 第16题：

    在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（）

    • A、只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值
    • B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值
    • C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值
    • D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准

    正确答案:D

  • 第17题：

    半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。


    正确答案:错误

  • 第18题：

    当量法适用于（）

    • A、大于声束截面的缺陷
    • B、小于声束截面的缺陷
    • C、水平裂纹和斜裂纹
    • D、纵向裂纹

    正确答案:B

  • 第19题：

    单选题
    使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）
    A

    小于实际尺寸

    B

    接近声束宽度

    C

    稍大于实际尺寸

    D

    等于晶片尺寸


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（）
    A

    小于实际尺寸

    B

    接近声束宽度

    C

    大于实际尺寸

    D

    等于晶片尺寸


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（）
    A

    只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值

    B

    只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值

    C

    只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值

    D

    人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    判断题
    只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

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