与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

题目

与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

相似考题

1.CSK一1A试块矽50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。()

2.斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

3.CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角

4.下列属于日本标准试块的是()A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW

更多“与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨”相关问题

  • 第1题：

    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    70度探头折射角测定应（）。

    • A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第3题：

    70°探头折射角测定应（）。

    • A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧
    • B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧
    • C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔
    • D、在半圆试块上测定

    正确答案:A

  • 第4题：

    CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。

    • A、不变
    • B、变化

    正确答案:B

  • 第6题：

    IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    判断题
    与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    判断题
    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    问答题
    试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？

    正确答案： 试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件，它主要用于确定合适的探伤方法；确定探伤灵敏度和评估缺陷大小；校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有：（1）利用厚度25mm和高度100mm，测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围；（2）利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）；（3）利用高度85，91，100mm测定直探头分辨率；（4）利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率；（5）利用50曲面和φ1．5横孔测定斜探头K值；（6）利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力；（7）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。
    A

    不变

    B

    变化


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    70°探头折射角测定应（）。
    A

    在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧

    B

    在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧

    C

    在CSK-1A试块探测φ1.5横孔

    D

    在半圆试块上测定


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。
    A

     直探头的的远场分辨力

    B

     斜探头的K值

    C

     斜探头的入射点

    D

     斜探头的声束偏斜角


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨率
    • D、以上全部

    正确答案:A

  • 第14题：

    《钢轨探伤管理规则》规定，探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？


    正确答案: 试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件，它主要用于确定合适的探伤方法；确定探伤灵敏度和评估缺陷大小；校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有：（1）利用厚度25mm和高度100mm，测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围；（2）利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）；（3）利用高度85，91，100mm测定直探头分辨率；（4）利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率；（5）利用50曲面和φ1．5横孔测定斜探头K值；（6）利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力；（7）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

  • 第16题：

    CSK-1A试块直径50毫米有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。


    正确答案:正确

  • 第17题：

    0°探头分辨率的测定应使用（）。

    • A、CSK-1A试块85、91台阶底面
    • B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面
    • C、WGT-1试块
    • D、WGT-2试块

    正确答案:A

  • 第18题：

    用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。

    • A、不变
    • B、变化

    正确答案:A

  • 第19题：

    判断题
    与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    问答题
    我国的CSK－IA试块与IIW试块有何不同？德国和日本对IIW试块作了哪些修改？

    正确答案： 我国的CSK－ＩA试块是在IIW试块基础上改进后得到的。主要改进的有：
    （1）将直孔Φ50改为Φ50、Φ44。Φ40台阶孔，以便于测定横波斜探头的分辨力。
    （2）将R100改为R100、R50阶梯圆弧，以便于调整横波扫描速度和探测范围。
    （3）将试块标定的折射角改为K值（K=tgβ），从而可直接测出横波斜探头的K值。
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    判断题
    IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。
    A

    不变

    B

    变化


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
    A

    测定斜探头K值

    B

    测定直探头盲区范围

    C

    测定斜探头分辨力

    D

    以上全是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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