X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是()
第1题:
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
第2题:
以下说法错误的是()
第3题:
不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是()
第4题:
X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。
第5题:
X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
第6题:
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。
第7题:
X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。
第8题:
无损伤鉴定宝石气相包裹体成分的方法有:().
第9题:
第10题:
Mo
B
Sn
N
第11题:
仅仅是Ⅰ
Ⅱ+Ⅲ
Ⅰ+Ⅱ
Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ
第12题:
X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人
X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋
X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行
X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置
第13题:
X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
第14题:
按照电磁辐射的本质来分,光谱分析法可分为原子光谱分析法和分子光谱分析法,属于原子光谱分析法的有()
第15题:
在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。
第16题:
简述X射线荧光光谱分析的优点。
第17题:
X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
第18题:
在X射线荧光光谱分析中,制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是()其比例是95%:5%。
第19题:
进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。
第20题:
Ⅰ+Ⅱ
Ⅰ+Ⅲ
Ⅱ+Ⅲ
Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ
第21题:
第22题:
电极污染
强光直射
试样表面没有打磨
以上都是
第23题: