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  • 第1题:

    ICP-AES法测定水中多元素时,消除最简单的方法是将样品稀释。()

    • A、物理干扰
    • B、化学干扰
    • C、电离子干扰

    正确答案:A

  • 第2题:

    用ICP-AES法测定水中金属元素,目前常用的、比较简便的校正元素间干扰的方法是()、或()。


    正确答案:扣除背景;干扰系数法

  • 第3题:

    用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。


    正确答案:正确

  • 第4题:

    ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。

    • A、光谱干扰
    • B、化学干扰
    • C、电离子干扰

    正确答案:A

  • 第5题:

    ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。

    • A、光谱干扰
    • B、化学干扰
    • C、电离干扰

    正确答案:A

  • 第6题:

    用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。


    正确答案:正确

  • 第7题:

    填空题
    用ICP-AES法测定水中金属元素,目前常用的、比较简便的校正元素间干扰的方法是()或()。

    正确答案: 扣除背景,干扰系数法
    解析: 暂无解析

  • 第8题:

    判断题
    用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    填空题
    ICP-AES法测定时,()法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法,多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。

    正确答案: 干扰系数
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    单选题
    ICP-AES法测定多元素时,在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,可抑制或消除()。
    A

    物理干扰

    B

    化学干扰

    C

    电离干扰


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    问答题
    电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时,如何校正ICP-AES法的非光谱干扰?

    正确答案: 优化实验条件、选择最佳工作参数或采用基体匹配法和标准加入法校正非光谱干扰。
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    判断题
    用ICP-AES法测定水中金属元素时,化学富集分离法用于校正元素间干扰,效果明显并可提高元素的检出能力,但操作手续繁冗,且易引入试剂空白。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    ICP-AES法测定时,()法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法,多数IC.P光谱仪软件中采用这种方法。


    正确答案:干扰系数

  • 第14题:

    用ICP-AES法测定水中金属元素时,分析过程中沾污造成的空白值,可作为干扰进行校正。


    正确答案:错误

  • 第15题:

    用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数与光谱仪的分辩能力无关,可直接使用文献中的干扰系数。


    正确答案:错误

  • 第16题:

    ICP-AES法存在的主要干扰有()、()、()、()和()。


    正确答案:物理干扰;光谱干扰;化学干扰;电离干扰;去溶干扰

  • 第17题:

    用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数与光谱仪的分辨能力无关,可直接使用文献资料中的干扰系数。


    正确答案:错误

  • 第18题:

    电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时,如何校正ICP-AES法的非光谱干扰?


    正确答案: 优化实验条件、选择最佳工作参数或采用基体匹配法和标准加入法校正非光谱干扰。

  • 第19题:

    判断题
    用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数与光谱仪的分辨能力无关,可直接使用文献资料中的干扰系数。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 干扰系数与光谱仪的分辨能力有关,文献资料中的干扰系数只作为参考,不能套用。于扰系数必须在所用仪器及具体分析条件下测定。

  • 第20题:

    单选题
    ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
    A

    光谱干扰

    B

    化学干扰

    C

    电离干扰


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    判断题
    用ICP-AES法测定水中金属元素时,分析过程中沾污造成的空白值,可作为干扰进行校正。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 用ICP-AES法测定时,不能把沾污造成的空白值,作为干扰进行校正。

  • 第22题:

    单选题
    ICP-AES法测定水中多元素时,消除()最简单的方法是将样品稀释。
    A

    物理干扰

    B

    化学干扰

    C

    电离干扰


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    问答题
    ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正?

    正确答案: 在测定过程中,气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;另外,毛细管阻塞、废液排泄不畅,会使溶液提升量和雾化效率受到影响;以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移,其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样,并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。
    解析: 暂无解析